[实用新型]光电检测设备有效
申请号: | 202020103172.2 | 申请日: | 2020-01-17 |
公开(公告)号: | CN211453360U | 公开(公告)日: | 2020-09-08 |
发明(设计)人: | 周竞辉;高鹏;高翾;张风港 | 申请(专利权)人: | 北京石墨烯研究院 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59;G01N27/04;G01R27/02 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 李建忠;袁礼君 |
地址: | 100095 北京市海淀区苏家*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 检测 设备 | ||
1.一种光电检测设备,其特征在于,包括:
上料部(10),所述上料部(10)用于承载待检测膜料;
传输组件(20),所述传输组件(20)用于驱动所述上料部(10)移动;
检测组件(30),所述检测组件(30)设置在所述上料部(10)的移动路径上,所述检测组件(30)包括透光率检测部(40)和面电阻检测部(50),以用于测量所述待检测膜料的光学透光率和面电阻。
2.根据权利要求1所述的光电检测设备,其特征在于,所述传输组件(20)包括:
第一传输部(21);
第二传输部(22),所述第一传输部(21)与所述第二传输部(22)间隔设置且延伸方向相一致,所述第一传输部(21)与所述第二传输部(22)之间形成检测间隙(23);
其中,所述透光率检测部(40)的至少部分和所述面电阻检测部(50)的至少部分均与所述检测间隙(23)相对设置,以在所述上料部(10)带动所述待检测膜料移动至与所述检测间隙(23)相对的位置后,所述透光率检测部(40)和所述面电阻检测部(50)用于测量所述待检测膜料的光学透光率和面电阻。
3.根据权利要求2所述的光电检测设备,其特征在于,所述透光率检测部(40)包括第一探头(41)和第二探头(42),所述第一探头(41)和所述面电阻检测部(50)均位于所述检测间隙(23)的上方,所述第二探头(42)的至少部分位于所述检测间隙(23)内或所述检测间隙(23)的下方;
其中,所述第一探头(41)和所述第二探头(42)相对设置。
4.根据权利要求3所述的光电检测设备,其特征在于,所述上料部(10)为镂空结构,以避免遮挡所述第一探头(41)和所述第二探头(42)测量所述待检测膜料的光学透光率。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的光电检测设备,其特征在于,所述透光率检测部(40)和所述面电阻检测部(50)均可移动地设置,以调节所述透光率检测部(40)和所述面电阻检测部(50)与所述上料部(10)上的所述待检测膜料之间的相对位置。
6.根据权利要求5所述的光电检测设备,其特征在于,所述光电检测设备还包括:
横移机构(60),所述横移机构(60)设置在所述上料部(10)的移动路径上,所述检测组件(30)设置在所述横移机构(60)上,所述横移机构(60)驱动所述检测组件(30)沿垂直于所述上料部(10)的移动方向的方向移动。
7.根据权利要求6所述的光电检测设备,其特征在于,所述透光率检测部(40)包括相对设置的第一探头(41)和第二探头(42),所述横移机构(60)包括:
第一横移部(61),所述第一横移部(61)位于所述传输组件(20)的上方,所述第一探头(41)和所述面电阻检测部(50)设置在所述第一横移部(61)上;
第二横移部(62),所述第一横移部(61)与所述第二横移部(62)相对设置,且所述第二横移部(62)位于所述传输组件(20)的下方,所述第二探头(42)设置在所述第二横移部(62)上;
驱动部(63),所述驱动部(63)与所述第一横移部(61)以及所述第二横移部(62)均驱动连接,以通过所述第一横移部(61)和所述第二横移部(62)驱动所述第一探头(41)、所述面电阻检测部(50)以及所述第二探头(42)同步移动。
8.根据权利要求6或7所述的光电检测设备,其特征在于,所述光电检测设备还包括:
升降机构(70),所述升降机构(70)可移动地设置在所述横移机构(60)上,所述检测组件(30)设置在所述升降机构(70)上,以使所述检测组件(30)通过所述升降机构(70)设置在所述横移机构(60)上;
其中,所述升降机构(70)位于所述传输组件(20)的上方,所述升降机构(70)驱动所述检测组件(30)的部分沿靠近或远离所述上料部(10)的方向可移动地设置。
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