[实用新型]一种检测开关

说明书

本实用新型涉及一种检测开关，包括壳体、一个导电扭簧、两个导电卡件以及一个压柄，压柄设于壳体内，两个导电卡件分别附设有卡件引脚。两个上述导电卡件由底卡件与侧卡件构成，底卡件设于上述壳体内底面，侧卡件设于壳体内侧面。上述导电扭簧装配于该壳体内。该导电扭簧附设有两个扭杆，一个扭杆端部延伸至壳体内底面且与上述底卡件邻接，另一个扭杆的杆体邻近上述侧卡件设置且该扭杆的端部与上述压柄底面邻接。该压柄受按压后带动与其邻接的上述扭杆移动，以控制该扭杆杆体侧面与侧卡件接触或者分离设置。本实用新型由于该扭杆与侧卡件为侧面接触而非正面抵压，因此检测开关受压使用对扭杆负荷较小，导电扭簧的使用寿命更长。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件领域，具体涉及一种检测开关。

背景技术

开关是可以使电路开路、使电流中断或使其流到其他电路的电子元件。最常见的开关是让人操作的机电设备，其中有一个或数个电子接点。接点的“闭合”（closed）表示电子接点导通，允许电流流过；开关的“开路”（open）表示电子接点不导通形成开路，不允许电流流过。

现有的检测开关，如专利申请号200820202329.6、201920660990.X、201921279549.3等方案，大多采用导电卡件设于开关壳体底部，而导电扭簧一扭杆连接一个导电卡件，另一扭杆受按压弯折运动至开关壳体底面地与另一导电卡件接触。在上述过程中，导电扭簧的扭杆需要被按压到开关壳体的底面且为保证该接触的稳定性以及扭杆被按压到位后还有一定的行程而不会导致扭杆被压坏，一般该受压的扭杆均会如上述方案中采用再次弯折甚至再次绕扭的结构，该结构的检测开关在使用中对导电扭簧的负荷较大，这也导致市面上常见的该种结构检测开关的导电扭簧使用寿命在10万至20万次，使用寿命较短。

发明内容

本实用新型提供一种检测开关，以解决现有的大多数检测开关受用寿命短等问题。

本实用新型采用如下技术方案：

一种检测开关，包括壳体、一个导电扭簧、两个导电卡件以及一个压柄，压柄设于壳体内，压柄按压端贯穿壳体顶面地延伸至壳体外设置，两个导电卡件分别附设有卡件引脚，卡件引脚贯穿壳体地延伸至壳体外设置。两个上述导电卡件由底卡件与侧卡件构成，底卡件设于上述壳体内底面，侧卡件设于壳体内侧面。上述导电扭簧装配于该壳体内。该导电扭簧附设有两个扭杆，一个扭杆端部延伸至壳体内底面且与上述底卡件邻接，另一个扭杆的杆体邻近上述侧卡件设置且该扭杆的端部与上述压柄底面邻接。该压柄受按压后带动与其邻接的上述扭杆移动，以控制该扭杆杆体侧面与侧卡件接触或者分离设置。

由上述对本实用新型结构的描述可知，和现有技术相比，本实用新型具有如下优点：

本实用新型通过将导电卡件主体分别设于壳体的底面与侧面，从而相应的配合导电扭簧的一个扭杆抵接于位于壳体底面的底卡件，而另一个扭杆通过其杆体侧面来与侧卡件接触或者分离。由于该扭杆与侧卡件为侧面接触而非正面抵压，因此检测开关受压使用对扭杆负荷较小，实践中，本实用新型结构中，导电扭簧的使用寿命可达百万次，相比于现有技术，提升了一整个数量级。

进一步地：

上述壳体包括座体以及盖体，座体呈顶敞口结构，盖体装配于座体的敞口处。

上述导电卡件为金属材质的导电卡件，导电卡件设于上述座体内且与座体注塑一体成型设置。

上述侧卡件一体冲压地设有接触泡点，接触泡点朝向上述壳体内延伸地凸出侧卡件表面设置，侧卡件通过接触泡点与上述扭杆接触设置。

上述壳体内侧面一体成型地设有一道避空筋，避空筋与上述侧卡件设于壳体的同一内侧面，避空筋邻近侧卡件设置，避空筋与侧卡件并列设置，避空筋朝向壳体内延伸且延伸至凸出壳体内侧面内的侧卡件表面所在平面，避空筋用于辅助实现上述扭杆与侧卡件分离。