[实用新型]一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室

说明书

本实用新型公开了一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室，包括底部托架，所述底部托架的顶部固定连接有底部盖板，所述底部盖板顶部的前后两端均固定连接有侧板，两个侧板之间的顶部固定连接有顶部盖板，两个侧板的后端固定连接有后部盖板，所述底部盖板顶部前端的侧板的靠左侧位置通过合页固定安装有屏蔽门，所述顶部盖板的靠中间位置放置有限位芯板。该适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室，其测试频率可扩展到18GHz，其测试结果重复性好，结果可以复现，GTEM横电波传输小室采用同轴及非对称矩形传输线设计原理，为避免内部电磁波的反射及产生高阶模式和谐振，总体设计为尖劈形。

技术领域

本实用新型涉及电磁测试技术领域，具体为一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室。

背景技术

现有方法通常采用TEM小室法进行集成电路的电磁兼容测试，其测试频率受工艺技术等原因的限制只能测试到3GHz；

现有的TEM小室测试方法由于是将被测品放到小室内部测试，对集成电路等电路板的小型被测品的供电、摆放、测试位置等都无法有效的确定；

现有的测试方法对集成电路的电磁兼容测试方法没有明确的规定测试方法，也没有专门的测试设备和环境。为此，我们提出一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室，以解决上述背景技术中提出集成电路的电磁兼容测试测试受工艺限制、测试位置等都无法有效的确定与没有明确的规定测试方法和没有专门的测试设备和环境的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室，包括底部托架，所述底部托架的顶部固定连接有底部盖板，所述底部盖板顶部的前后两端均固定连接有侧板，两个侧板之间的顶部固定连接有顶部盖板，两个侧板的后端固定连接有后部盖板，所述底部盖板顶部前端的侧板的靠左侧位置通过合页固定安装有屏蔽门，所述顶部盖板的靠中间位置放置有限位芯板，所述限位芯板的底端与底部盖板固定连接，所述侧板的顶部固定安装有开窗，且侧板的顶部对应开窗的靠四角位置均设置有固定开关，所述固定开关包括安装块，所述安装块通过螺栓与顶部盖板固定连接，且安装块靠近开窗的一端固定连接有连接块，所述连接块的活动连接有螺纹杆，所述螺纹杆的顶部固定连接有拧块，所述螺纹杆的底端固定连接有固定垫，所述固定垫的底端与开窗接触。

优选的，所述底部托架底部左端的前后和右端均固定安装有万向轮，且底部托架为三角形的设计。

优选的，所述底部盖板、侧板与顶部盖板之间均为焊接固定。

优选的，所述底部盖板和顶部盖板之间的右端固定安装有N型端口。

优选的，所述屏蔽门的前侧固定安装有可视窗口。

优选的，所述后部盖板的一端固定连接有吸波材料板。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、该适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室，其测试频率可扩展到18GHz，其测试结果重复性好，结果可以复现，GTEM横电波传输小室采用同轴及非对称矩形传输线设计原理，为避免内部电磁波的反射及产生高阶模式和谐振，总体设计为尖劈形。输入端口采用N型同轴接头，而后渐变至非对称矩形传输以减少结构突变所引起的电波反射，为使GTEM内部达到良好的阻抗匹配与较大的可用体积，选取并调测了合适的角度、芯板宽度和非对称性，可以保证芯板和上面板之间的辐射场均匀分布，满足集成电路电磁兼容测试的要求。

2、该适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室，本产品的TEM小室在原先的基础上，在顶部增加了开窗，可通过四个固定开关将集成电路板紧固在开窗上，大小可根据客户的被测品，基本可以覆盖所有被测品的尺寸。