[实用新型]一种扫描探针电阻测试系统有效

专利信息
申请号: 202020121747.3 申请日: 2020-01-19
公开(公告)号: CN211785799U 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 张海涛 申请(专利权)人: 天津丘山仪器科技有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 天津英扬昊睿专利代理事务所(普通合伙) 12227 代理人: 吴扬
地址: 300000 天津市西青区经济技术开发区赛达九纬*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 扫描 探针 电阻 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种扫描探针电阻测试系统,其特征在于,包括基准平板、Y轴位移台、支撑结构、X轴位移台、Z轴位移台、显微摄像头、探针头、导线、测量仪表、计算机、位移台控制器、数据线、样品托盘,所述基准平板上设有Y轴位移台,所述Y轴位移台一端的基准平板上竖直设有支撑结构,所述支撑结构顶部设有X轴位移台,所述X轴位移台一端设有显微摄像头,所述X轴位移台中间位置设有Z轴位移台,所述Z轴位移台上固定安装有探针头,所述探针头通过螺栓实现与Z轴位移台的固定,所述基准平板的一侧设有计算机,所述计算机分别通过数据线与测量仪表、位移台控制器相连接,所述计算机通过导线与显微摄像头连接,所述测量仪表与探针头、位移台控制器与Y轴位移台、X轴位移台、Z轴位移台分别通过导线实现电连接,所述Y轴位移平台上设有样品托盘,所述样品托盘通过螺栓与Y轴位移平台实现固定连接。

2.按照权利要求1所述的一种扫描探针电阻测试系统,其特征在于,所述支撑结构为两根相对于基准平板中线对称设置的立柱。

3.按照权利要求1所述的一种扫描探针电阻测试系统,其特征在于,所述Y轴位移台、X轴位移台、Z轴位移台均为直线导轨。

4.按照权利要求3所述的一种扫描探针电阻测试系统,其特征在于,所述Y轴位移台、X轴位移台、Z轴位移台均由电机驱动。

5.按照权利要求1所述的一种扫描探针电阻测试系统,其特征在于,所述Y轴位移台、X轴位移台、Z轴位移台上还设有编码器或光栅尺。

6.按照权利要求1所述的一种扫描探针电阻测试系统,其特征在于,所述测量仪表为直流欧姆表,或者直流电桥,或者交流电桥,或者电化学工作站,或者交流阻抗测试仪。

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