[实用新型]一种频分双工制式的射频矩阵及性能测试系统有效

专利信息
申请号: 202020144305.0 申请日: 2020-01-22
公开(公告)号: CN210867725U 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 曹宝华 申请(专利权)人: 南京捷希科技有限公司
主分类号: H04B17/391 分类号: H04B17/391;H04B17/309
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;贾允
地址: 210001 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 双工 制式 射频 矩阵 性能 测试 系统
【说明书】:

本实用新型公开了频分双工制式的射频矩阵及性能测试系统,射频矩阵为M×N射频矩阵;M×N射频矩阵包括双工模块,双工模块将M×N射频矩阵分为M×N路上行信道和M×N路下行信道,每路上行信道和每路下行信道均设有移相和衰减模块或移相模块;M×N射频矩阵用于将基站发出的M路下行原始信号通过M×N路下行信道转换为N路下行接收信号发送给终端;M×N射频矩阵还用于将终端发出的N路上行原始信号通过M×N路上行信道转换为M路上行接收信号发送给基站。频分双工制式的性能测试系统包括控制装置和上述射频矩阵。

技术领域

发明涉及通信测试技术领域,尤其涉及一种频分双工制式的射频矩阵及性能测试系统。

背景技术

大规模MIMO(多入多出技术)可以在不增加新频谱资源的情况下,利用空间复用技术极大地提升小区容量和吞吐率。

目随着MIMO技术的不断发展,FDD技术也不断成熟、终端越来越丰富,在全球的越来越广泛,但目前针对FDD的测试解决方案还不够成熟,仍然使用传统FDD(Frequency-division Duplex频分双工)的测试解决方法,但由于FDD信道的复杂性,传统的测试方案较为复杂,且传统的FDD的测试方案没有一套理想的实验室测试系统及环境来模拟这类信道,使得传统FDD的测试方案较为复杂。

发明内容

本发明的目的在于提供一种频分双工制式的射频矩阵及性能测试系统,解决传统的测试方案复杂、无法在实验室模拟信道进行测试的技术问题。

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种频分双工制式的射频矩阵,所述射频矩阵为M×N射频矩阵;

所述M×N射频矩阵包括双工模块,所述双工模块将M×N射频矩阵分为M×N路上行信道和M×N路下行信道,每路上行信道和每路下行信道均设有移相和衰减模块或移相模块;所述M×N射频矩阵用于将基站发出的M路下行原始信号通过M×N路下行信道转换为N路下行接收信号发送给终端;所述M×N射频矩阵还用于将终端发出的N路上行原始信号通过M×N路上行信道转换为M路上行接收信号发送给基站。

进一步地,所述M×N射频矩阵包括M个第一端口和N个第二端口;所述M×N射频矩阵还包括功分器和合路器;

所述功分器位于所述M个第一端口处,用于将每个第一端口的原始信号分为N路信号;

所述合路器位于所述N个第二端口处,用于将M路原始信号合为一路接收信号。

此外,本发明提出了一种频分双工制式性能测试系统,包括控制装置和上述的射频矩阵;所述控制装置与所述M×N射频矩阵连接,所述控制装置用于获取目标波束角度,根据目标波束角度和预设模型,获取M×N路上行信道和M×N路下行信道中每个信道的相位设值,并根据各所述每个信道的相位设值调整对应信道的移相和衰减模块或移相模块的相位值。

进一步地,所述预设模型为:

PS=(j-1)*2π*Di/λ*SIN(θ)+(i-1)*2π*Dj/λ*SIN(φ)

其中,与所述M个第一端口对接的基站天线的振源为i×j的面阵,Di为横向相邻振源的间距,Dj为纵向相邻振源的间距,θ为波束的水平方向角度,φ为波束的垂直方向角度,λ为波长。

进一步地,所述控制装置还用于,获取目标增益,并根据目标增益实时调整对应信道的衰减值。

进一步地,所述M×N射频矩阵中,M为2、4、8、16、32、64、128、256,N为2、4、8、16、32、64、128、256。

进一步地,所述双工模块位于所述功分器与合路器之间;或所述双工模块位于所述分路器与基站之间和所述分路器与终端之间。

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