[实用新型]显微透过率测试设备

说明书

本实用新型涉及一种显微透过率测试设备，包括产品台、对孔组件、上光源件及测光组件。产品台设有用于放置待测产品的测试位；对孔组件设置于所述测试位的上方，测试光线能穿过所述对孔组件至透过测试位；上光源件设置于对孔组件上且位于靠近测试位的一端，用于在待测产品对孔时照亮测试位；测光组件设置在测试位的下方。位于测试位及待测产品上方的上光源件开启，照亮测试位上的待测产品，可以清晰地观测到测试光线是否全部通过待测产品上的待测孔位。无需往返移动背光源，能方便快捷地进行对孔操作，有效提高了检测效率。

技术领域

本实用新型涉及透过率测试设备技术领域，特别是涉及一种显微透过率测试设备。

背景技术

显微透过率测试仪是在传统光谱分析基础上发展起来的一种采集空间微米区域光信号的分析装置。对于许多产品，透过率是判别是否合格的重要指标，像手机盖板的IR(Infrared Radiation，红外线)孔、遥控器等产品，对光线的透过率要求非常严格。对于这种小孔径或者异形小材料的透过率测试，由于尺寸较小，通常采用显微透过率测试仪进行测量。

一般的显微透过率测试仪采用背光源进行对孔，对于大于0.6mm的小孔，虽然每个盖板的小孔位置存在差异，由于小孔相对较大，不会影响测量结果；一次对孔结束后，每次测量只需即放即测，不需重新对孔。但是对于比较弱、且孔较小的产品，通过背光源对孔后，由于小孔的位置重复性存在差异，有些光斑会超出小孔边缘，导致测量结果存在较大偏差；若每次背光源对孔，需要将背光源拉出、推进，延长测量时间，影响测试效率。

实用新型内容

基于此，本申请提供一种显微透过率测试设备，能有效提高检测效率。

一种显微透过率测试设备，包括

产品台，所述产品台设有用于放置待测产品的测试位；

对孔组件，所述对孔组件设置于所述测试位的上方，测试光线能穿过所述对孔组件至透过所述测试位；

上光源件，所述上光源件设置于所述对孔组件上且位于靠近所述测试位的一端，用于在所述待测产品对孔时照亮所述测试位；

测光组件，所述测光组件设置在所述测试位的下方。

上述显微透过率测试设备，将待测产品放置于产品台的测试位处，测试光线通过所述对孔组件射出，此时位于测试位及待测产品上方的上光源件开启，照亮测试位上的待测产品，测试者或对孔组件可以清晰地获知测试光线是否全部通过待测产品上的待测孔位，位于测试位下方的测光组件吸收及分析透过待测孔位及测试位的测试光线，从而得到待测产品的准确透过率。相对传统使用背光源照亮的方式，本申请的显微透过率测试设备无需往返移动背光源，能方便快捷地进行对孔操作，有效提高了检测效率。

在其中一实施例中，所述对孔组件包括物镜，所述上光源件安装在所述物镜上，所述上光源件包括壳体及设置在壳体内的对孔光源，所述壳体的一端形成有与所述物镜的外周匹配的安装槽，所述壳体通过所述安装槽套设于所述物镜靠近所述测试位的一端，所述壳体的另一端开设有让位孔，所述让位孔与所述物镜的出光面相对设置。

在其中一实施例中，所述壳体位于物镜外周的外壁覆有黑色遮光层，所述壳体位于物镜出光面相对的外壁为导光板。

在其中一实施例中，所述上光源件还包括调节螺杆，所述壳体上开设有螺纹孔，所述调节螺杆的一端穿过所述螺纹孔与所述物镜相抵接，使所述上光源件与所述物镜连接。

在其中一实施例中，所述的显微透过率测试设备还包括遮光套，所述遮光套套设于所述物镜外，且位于所述壳体与所述物镜之间，所述遮光套至所述产品台的距离小于所述物镜至所述产品台的距离。

在其中一实施例中，所述对孔组件还包括相机及导光筒，所述物镜及所述导光筒分别与所述相机连接，所述导光筒上设有接口，所述接口用于安装发射所述测试光线的测试光源。