[实用新型]一种可校正阵列非均匀性的焦平面探测器读出电路

权利要求书

1.一种可校正阵列非均匀性的焦平面探测器读出电路，其特征在于，所述的电路包括控制芯片(110)、多路复用模块(120)和放大处理模块(130)，所述多路复用模块(120)包括横向多路复用器(121)和纵向多路复用器(122)，所述放大处理模块(130)包括数模转换器(131)、运算放大器(132)和差分放大器(133)；所述控制芯片(110)分别与横向多路复用器(121)和纵向多路复用器(122)相连；所述的横向多路复用器(121)与纵向多路复用器(122)均与焦平面阵列探测器相连，所述的纵向多路复用器(122)与运算放大器(132)相连，所述的运算放大器(132)与差分放大器(133)相连，所述的差分放大器(133)与控制芯片(110)相连。

2.根据权利要求1所述的可校正阵列非均匀性的焦平面探测器读出电路，其特征在于，所述控制芯片(110)分别与横向多路复用器(121)的横向多路复用器控制端(1212)和纵向多路复用器(122)的纵向多路复用器控制端(1221)相连；所述横向多路复用器(121)的横向多路复用器输入端(1211)接地，横向多路复用器输出端(1213)接焦平面阵列探测器；所述纵向多路复用器(122)的纵向多路复用器输出端(1223)与运算放大器(132)相连，纵向多路复用器输入端(1222)与焦平面阵列探测器相连；所述的运算放大器(132)的运算放大器输出端(1323)与差分放大器(133)相连，所述差分放大器(133)的差分放大器输出端(1335)连接控制芯片(110)。

3.根据权利要求1所述的可校正阵列非均匀性的焦平面探测器读出电路，其特征在于，所述控制芯片(110)与数模转换器(131)相连，所述的数模转换器(131)的数模转换器输出端(1312)与差分放大器(133)的相连。

4.根据权利要求1或2或3所述的可校正阵列非均匀性的焦平面探测器读出电路，其特征在于，所述运算放大器(132)的运算放大器第二输入端(1322)还与下拉电阻(134)相连接。

5.根据权利要求1所述的可校正阵列非均匀性的焦平面探测器读出电路，其特征在于，所述横向多路复用器(121)和纵向多路复用器(122)是可根据阵列规模选择、增添与删减通道数目。

6.根据权利要求1或2或3或5所述的可校正阵列非均匀性的焦平面探测器读出电路，其特征在于，所述的控制芯片(110)为MSP430。

7.根据权利要求1或2或3或5所述的可校正阵列非均匀性的焦平面探测器读出电路，其特征在于，所述的数模转换器(131)的转换时间小于10ns。