[实用新型]一种手机灵敏度降级测量的装置

说明书

本实用新型公开了一种手机灵敏度降级测量的装置，涉及手机灵敏度降级测量技术领域，包括基站模拟器、数控射频衰减器、控制电脑、Desense屏蔽箱、天线和射频线缆，所述控制电脑与所述基站模拟器电连接，所述基站模拟器与所述数控射频衰减器电连接，所述数控射频衰减器通过所述射频线缆与所述Desense屏蔽箱连接，所述天线位于所述Desense屏蔽箱内部；本实用新型提供的装置，使得手机灵敏度降级测量能达到OTA暗室环境相同量级的精度，并且对于手机自身功能电路存在不稳定射频干扰发射(RFI)的情况，能有效准确的得到Desense结果，降低掉话风险，提升测试效率。

技术领域

本实用新型涉及手机灵敏度降级测量技术领域，特别涉及一种手机灵敏度降级测量的装置。

背景技术

移动通信系统中，手机接收机的性能至关重要。而灵敏度是衡量手机接收机性能的重要指标，它反映的是手机接收机接收基站微弱信号的能力。手机灵敏度不仅能够影响移动通信网络的质量，还能影响移动通信网络的覆盖和容量。手机接收机灵敏度的测量有非常重要的意义。

现有的手机灵敏度测量通常是在天线暗室进行OTA TIS测量。由于OTA TIS测量非常耗时间，一般情况仅能测试有限个通信信道(高中低3个信道)和有限个状态(手机正常通话状态)，而其他情况，尤其是手机不同功能打开后对接收灵敏度的降级影响(desense)，都无法涵盖。

手机灵敏度降级Desense测量作为对TIS测量的延展和补充，正越来越受到手机厂商和移动通信领域业内的重视。现有的Desense测量通常都是在小型GTEM Cell或OTA暗室以及带天线耦合板的大屏蔽箱里进行。OTA暗室成本非常昂贵；小型GTEM Cell则可用空间过小，导致测试误差非常大；大屏蔽箱的天线耦合板里被测手机之间非常近，对测试结果也有很大影响。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种手机灵敏度降级测量的装置，手机灵敏度降级测量能达到OTA暗室环境相同量级的精度，并且对于手机自身功能电路存在不稳定射频干扰发射(RFI)的情况，能有效准确的得到Desense结果，降低掉话风险，提升测试效率。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案如下：

本实用新型提供一种手机灵敏度降级测量的装置，包括基站模拟器、数控射频衰减器、控制电脑、Desense屏蔽箱、天线和射频线缆，所述控制电脑与所述基站模拟器电连接，所述基站模拟器与所述数控射频衰减器电连接，所述数控射频衰减器通过所述射频线缆与所述Desense屏蔽箱连接，所述天线位于所述Desense屏蔽箱内部。

上述方案的优选方案为，所述Desense屏蔽箱内还放置有用于盛放手机的支架。

上述方案的优选方案为，所述支架为泡沫支架。

上述方案的优选方案为，所述泡沫支架由低电介质硬泡沫材料制成。

上述方案的优选方案为，所述Desense屏蔽箱内部贴装有吸波材料，所述Desense屏蔽箱的电磁反射率低于-20dB(600MHz-6GHz)。

上述方案的优选方案为，所述天线为圆极化通信天线，所述天线距离支架的距离不少于一个通信载波波长。

上述方案的优选方案为，所述通信载波波长为600MHz-6GHz。

上述方案的优选方案为，数控射频衰减器的可变范围为1-10dB，精度大于0.05dB，可变步长不大于0.2dB，响应时间不大于0.2ms。