[实用新型]颗粒物监测仪有效

专利信息
申请号: 202020168688.5 申请日: 2020-02-13
公开(公告)号: CN212341055U 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 敖小强;罗武文;郭玉龙;李四寿 申请(专利权)人: 北京雪迪龙科技股份有限公司
主分类号: G01N23/12 分类号: G01N23/12;G01N15/06
代理公司: 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 代理人: 张羽;武玉琴
地址: 102206 北京市昌*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 颗粒 监测
【权利要求书】:

1.一种颗粒物监测仪,其特征在于,包括:

采样测量单元,用于测量基准滤片的空白计数值和待检测滤带的空白斑点的空白计数值;

移动单元,用于移动所述待检测滤带;

数据处理单元,用于对测量得到的基准滤片的空白计数值进行数据处理获得基准值;

存储单元,用于存储所述基准值;

比较单元,用于比较所述基准值和所述待检测滤带的空白斑点的空白计数值,获得比较结果;

判断单元,用于根据所述比较结果判断所述待检测滤带的质量。

2.根据权利要求1所述的颗粒物监测仪,其特征在于,所述采样测量单元包括:

采样管道,包括采样进口和采样出口;

抽气泵,连接所述采样出口;

β射线源,设置在所述采样管道内;

检测器,设置在所述采样管道内,与所述β射线源相对设置;

控制单元,用于所述颗粒物监测仪的电气控制。

3.根据权利要求1所述的颗粒物监测仪,其特征在于,所述基准值包括第一基准值Nmin和第二基准值Nmax,所述Nmin为单位面积质量最低的所述基准滤片的空白计数值的平均值,所述Nmax为单位面积质量最高的所述基准滤片的空白计数值的平均值。

4.根据权利要求3所述的颗粒物监测仪,其特征在于,所述判断单元包括第一判断单元,用于判断所述待检测滤带的空白斑点的质量,

所述第一判断单元配置为:

当0.9Nmin≤N≤1.1Nmax时,判断所述待检测滤带的空白斑点质量合格;

当N<0.9Nmin或者1.1Nmax<N时,判断所述待检测滤带的空白斑点质量不合格;

其中,N为所述待检测滤带的空白斑点的空白计数值。

5.根据权利要求3所述的颗粒物监测仪,其特征在于,所述判断单元包括第二判断单元,用于判断所述待检测滤带的质量,

所述第二判断单元配置为:

当连续出现N<0.7Nmin或者N>1.3Nmax时,判断所述待检测滤带的质量不合格,

其中,N为所述待检测滤带的空白斑点的空白计数值。

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