[实用新型]试件尺寸激光测量装置有效
申请号: | 202020173404.1 | 申请日: | 2020-02-17 |
公开(公告)号: | CN211291346U | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 潘堃;叶洲元;刘文汇;刘续斌 | 申请(专利权)人: | 湖南科技大学 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 杨千寻;冯振宁 |
地址: | 411100*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 尺寸 激光 测量 装置 | ||
1.一种试件尺寸激光测量装置,其特征在于,包括具有相互垂直的底板和侧板的L型框架,侧板内表面上垂直伸出有与底板平行的水平杆和刻度杆,水平杆和刻度杆之间具有间距且在侧板上等高设置,水平杆上安装有可沿水平杆滑移的激光光源,底板在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架,底板上设有路径供试件支撑架作与水平杆伸出方向平行的移动;
刻度杆包括带孔主刻度杆和无孔副刻度杆,无孔副刻度杆紧贴在带孔主刻度杆的上方或下方,带孔主刻度杆上的孔供激光通过,刻度杆背面布置有供激光照射的光幕,光幕与刻度杆之间具有间距且光幕分别与底板、侧板垂直。
2.根据权利要求1所述的试件尺寸激光测量装置,其特征在于,试件支撑架包括与底板接触的支架及设于支架顶端的支撑平台。
3.根据权利要求2所述的试件尺寸激光测量装置,其特征在于,支架由至少两个子支架套设连接而成。
4.根据权利要求3所述的试件尺寸激光测量装置,其特征在于,支架由与底板接触的主支架及与支撑平台接触的副支架组成,副支架底部套设在主支架顶部。
5.根据权利要求4所述的试件尺寸激光测量装置,其特征在于,副支架在套设至主支架顶端的套设部外周开设有贯通的螺纹孔,螺纹孔内拧设有与主支架抵接的紧定螺钉以使支架整体套设稳固。
6.根据权利要求2所述的试件尺寸激光测量装置,其特征在于,支撑平台的支撑表面为粗糙表面。
7.根据权利要求1所述的试件尺寸激光测量装置,其特征在于,底板上的路径为平行于水平杆开设的贯通型凹槽,试件支撑架底部设置有与凹槽结构适配且沿凹槽滑移的滑移部。
8.根据权利要求7所述的试件尺寸激光测量装置,其特征在于,凹槽为可防止滑移部在非水平方向脱出的限位型凹槽。
9.根据权利要求8所述的试件尺寸激光测量装置,其特征在于,凹槽呈倒T结构。
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