[实用新型]一种功率半导体模块结构有效
申请号: | 202020183263.1 | 申请日: | 2020-02-19 |
公开(公告)号: | CN211150546U | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
发明(设计)人: | 洪思忠;胡羽中 | 申请(专利权)人: | 华芯威半导体科技(北京)有限责任公司 |
主分类号: | H01L23/367 | 分类号: | H01L23/367;H01L23/373;H01L25/07;H01L21/48 |
代理公司: | 北京邦创至诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11717 | 代理人: | 张宇锋 |
地址: | 100744 北京市大兴区北京经济*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 功率 半导体 模块 结构 | ||
1.一种功率半导体模块结构,其特征在于,包括:若干个并联设置的芯片、上覆铜基板、下覆铜基板、驱动端子、电极端子、金属块和塑封树脂;
所述芯片和驱动端子分别焊接于所述下覆铜基板的覆铜层,所述驱动端子包括:上桥驱动端和下桥驱动端;
所述电极端子焊接于所述下覆铜基板的覆铜层,所述电极端子包括:正极、负极和交流输出极;
所述金属块焊接于所述芯片的表面,其中上桥区域的金属块的上表面与所述上覆铜基板的左侧铜层连接,所述上覆铜基板的左侧铜层与所述交流输出极连接,其中下桥区域的金属块的上表面与所述上覆铜基板的右侧铜层连接,所述上覆铜基板的右侧铜层与负极连接;
所述上覆铜基板与下覆铜基板之间通过塑封树脂连接。
2.根据权利要求1所述的功率半导体模块结构,其特征在于,包括:热敏电阻端;所述热敏电阻端通过焊料焊接于下覆铜基板的覆铜层。
3.根据权利要求1所述的功率半导体模块结构,其特征在于,所述上覆铜基板包括:绝缘陶瓷层和设置于绝缘陶瓷层上下两面的覆铜层。
4.根据权利要求1所述的功率半导体模块结构,其特征在于,所述下覆铜基板包括:绝缘陶瓷层和设置于绝缘陶瓷层上下两面的覆铜层,其中一面的覆铜层具有间隔分布的左侧铜层、右侧铜层。
5.根据权利要求1所述的功率半导体模块结构,其特征在于,所述芯片为SiC MOSFET芯片或者IGBT芯片。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华芯威半导体科技(北京)有限责任公司,未经华芯威半导体科技(北京)有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202020183263.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。