[实用新型]一种镜头模组光心测试结构有效

专利信息
申请号: 202020192268.0 申请日: 2020-02-21
公开(公告)号: CN211656289U 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 燕宇;王旭;庞文浩 申请(专利权)人: 昆山丘钛微电子科技有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 代理人: 刘杰
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 镜头 模组 光心 测试 结构
【说明书】:

实用新型实施例提供的一种镜头模组光心测试结构,通过在镜头模组与光源板之间放置测试图,该测试图各部分的透过率可根据0曝光时的暗电流值进行设置制作以实现补偿暗电流,补偿后的结果可进行光心测试。本实用新型中的结构可实现暗电流的补偿,可以替代现有的修改摄像头模组芯片的寄存器及配置文件的方式来补偿暗电流,极大的降低了硬件成本,并且简单易行,进行光心测试时具有较高的测试效率和测试精度。

技术领域

本实用新型涉及制造和测试技术领域,具体而言,涉及一种镜头模组光心测试结构。

背景技术

目前光学三维测量技术逐渐成熟,已经开始大规模的使用在手机、监控等消费电子设备上进行应用。TOF(Time-Of-Flight,飞行时间)技术是众多三维光学测量技术中较为突出的一种。TOF技术的基本原理是,主动光源发射的光线经被测物体反射后被TOF设备捕获,而后TOF设备根据光线由发出至捕获的时间差或相位差来计算被测物体的距离,以产生深度信息。此外,再结合传统的相机拍摄,就可以将物体的三维轮廓以不同颜色代表不同距离的图形方式呈现出来,拍摄出景深信息。

TOF模组测试之前需要进行暗电流的补偿,目前补偿暗电流的方法是通过硬件方式由芯片本身来处理,这种方式需要增加硬件成本和时间投入。对于不具备硬件补偿功能的芯片,暗电流不能被补偿会影响到TOF模组后续功能测试。

因此,目前急需一种能够对TOF模组进行简单、快速和低成本补偿暗电流的方式。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型实施例的目的在于提供一种镜头模组光心测试结构,可实现镜头模组补偿暗电流,使得进行光心测试时具有较高的测试效率和测试精度。

本申请通过一实施例提供如下技术方案:

一种镜头模组光心测试结构,包括:光源板、镜头模组和各区域透过率不同的测试图;所述测试图设置于所述光源板和所述镜头模组之间;所述镜头模组朝向所述光源板固定安装,并使所述测试图充满所述镜头模组的镜头视场角范围。

优选地,所述镜头模组为TOF镜头模组。

优选地,所述测试图覆盖于所述光源板上。

优选地,所述测试图的大小与所述光源板的发射区域大小相同。

优选地,所述测试图恰好充满所述镜头模组的镜头视场角范围。

优选地,所述镜头模组的镜头与所述测试图的垂直距离为60-80cm。

优选地,所述镜头模组的镜头与所述测试图的垂直距离为70cm。

优选地,所述测试图的厚度为5-10mm。

优选地,所述光源板的尺寸为1200mm*1000mm。

优选地,所述光源板为红外光源板。

本申请实施例中提供的技术方案,至少具有如下技术效果或优点:

与现有技术相比,本实用新型实施例中提供的一种镜头模组光心测试结构,通过在镜头模组与光源板之间放置测试图,该测试图各部分的透过率可根据镜头模组的芯片0曝光时的暗电流值进行设置制作以实现补偿暗电流,补偿后的结果可进行光心测试。通过本实用新型中的结构进行暗电流的补偿可以替代现有的修改摄像头模组芯片的寄存器及配置文件的方式来补偿暗电流,极大的降低了硬件成本,并且简单易行,进行光心测试时具有较高的测试效率和测试精度。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。

附图说明

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