[实用新型]一种气相法白炭黑表面硅羟基含量测定用取样装置有效

专利信息
申请号: 202020209490.7 申请日: 2020-02-24
公开(公告)号: CN211652192U 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 陈珍;刘国晶;谭军;杨晓义;范建平;徐慧芬;孙飞;王德球;范佳延;刘晶雅 申请(专利权)人: 浙江富士特硅材料有限公司
主分类号: G01N1/10 分类号: G01N1/10
代理公司: 杭州永航联科专利代理有限公司 33304 代理人: 罗伟清
地址: 324000 浙江省衢*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 气相法白 炭黑 表面 羟基 含量 测定 取样 装置
【权利要求书】:

1.一种气相法白炭黑表面硅羟基含量测定用取样装置,包括装置下底座(1)和固定柱(7),其特征在于:所述装置下底座(1)下端边缘安装有支腿(2),所述装置下底座(1)上端中心连接有底座支撑(3),且底座支撑(3)上端连接有装置上底座(4),所述装置上底座(4)上端中心位置固定有旋转平台(5),且旋转平台(5)上端中心连接有液压杆(6),所述液压杆(6)上方固定有固定柱(7),且固定柱(7)外壁中部套装有连接杆(8),所述连接杆(8)右端连接有固定夹(9),且固定夹(9)右端贯穿有螺栓(10),所述固定夹(9)内壁贴合有取样器外筒(11),且取样器外筒(11)内壁贴合有取样器活塞杆(12),所述取样器外筒(11)下端连接有取样管(13),所述旋转平台(5)上端边缘分布有取样器按钮(14),所述装置上底座(4)边缘分布有量杯孔(15),且量杯孔(15)内壁贴合有量杯(16)。

2.根据权利要求1所述的一种气相法白炭黑表面硅羟基含量测定用取样装置,其特征在于:所述支腿(2)关于装置下底座(1)中轴线对称分布,且支腿(2)数量为4只。

3.根据权利要求1所述的一种气相法白炭黑表面硅羟基含量测定用取样装置,其特征在于:所述装置下底座(1)与底座支撑(3)为水平垂直状分布,且装置下底座(1)与装置上底座(4)为平行状分布。

4.根据权利要求1所述的一种气相法白炭黑表面硅羟基含量测定用取样装置,其特征在于:所述旋转平台(5)与底座支撑(3)组成旋转结构,且旋转平台(5)绕底座支撑(3)中轴线进行360°旋转。

5.根据权利要求1所述的一种气相法白炭黑表面硅羟基含量测定用取样装置,其特征在于:所述液压杆(6)为可伸缩结构,且液压杆(6)伸缩长度范围为0-30cm。

6.根据权利要求1所述的一种气相法白炭黑表面硅羟基含量测定用取样装置,其特征在于:所述连接杆(8)与固定柱(7)为焊接一体化结构,且连接杆(8)与固定柱(7)呈水平垂直状分布。

7.根据权利要求1所述的一种气相法白炭黑表面硅羟基含量测定用取样装置,其特征在于:所述取样器外筒(11)与取样器活塞杆(12)组成滑动结构,且取样器活塞杆(12)沿取样器外筒(11)内壁滑动长度范围为0-20cm。

8.根据权利要求1所述的一种气相法白炭黑表面硅羟基含量测定用取样装置,其特征在于:所述量杯孔(15)关于装置上底座(4)中轴线呈对称分布,且量杯孔(15)数量为8个。

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