[实用新型]一种电解电容寿命快速检测设备有效

专利信息
申请号: 202020221106.5 申请日: 2020-02-27
公开(公告)号: CN211785862U 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 温坤;张建治 申请(专利权)人: 杭州明坤电器有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京沁优知识产权代理有限公司 11684 代理人: 林捷达
地址: 310000 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 电解电容 寿命 快速 检测 设备
【权利要求书】:

1.一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:包括测试电容TEST_C1、测试电容电路及与所述测试电容电路连接的显示控制电路;所述测试电容TEST_C1通过所述测试电容电路的纹波电流,表现出不同的发热程度,最终导致防爆阀打开容量失效,测试的这段时间即为测试电容TEST_C1的快速测试寿命时间,且通过所述显示控制电路显示。

2.根据权利要求1所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:所述测试电容电路包括结构相同的测试电容充电电路及测试电容放电电路;所述测试电容充电电路的输出端通过所述测试电容TEST_C1连接所述测试电容放电电路的输入端。

3.根据权利要求2所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:所述测试电容充电电路包括限流电阻R3、R4及分别所述限流电阻R3、R4连接的充电控制管SQ1、充电负载切换开关K2;所述充电负载切换开关K2与快速恢复二极管D7连接。

4.根据权利要求2所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:所述测试电容电路还包括分别与测试电容充电电路及测试电容放电电路对应连接且结构相同的测试电容充电驱动电路及测试电容放电驱动电路;所述测试电容放电驱动电路包括驱动芯片IR2101及与所述驱动芯片IR2101连接的电解电容CD5。

5.根据权利要求1所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:还包括隔离转换电路,交流电通过所述隔离转换电路转换成测试所需的400V直流测试电压;所述隔离转换电路的输出端与所述测试电容电路的输入端连接。

6.根据权利要求5所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:所述隔离转换电路包括依次连接的变压器BT1、六路结构相同的滤波整流电路、二极管D2及电解电容CDO1;所述交流电的输出端连接所述变压器BT1;所述电解电容CDO1连接所述测试电容充电电路的输入端。

7.根据权利要求6所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:所述滤波整流电路包括依次连接的二极管D1、电容C2及电解电容CD1。

8.根据权利要求1所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:所述显示控制电路包括主控芯片及与主控芯片连接的RC电路;所述RC电路包括依次连接的电阻R1、电阻R2及电容C1。

9.根据权利要求2所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:还包括光耦隔离电路;所述光耦隔离电路包括三极管Q1及与所述三极管Q1连接的光电耦合器U2;所述测试电容放电电路的输出端与所述三极管Q1的集电极;所述三极管Q1的发射极连接光电耦合器U2。

10.根据权利要求1所述一种电解电容寿命快速检测设备,其特征在于:所述一种电解电容寿命快速检测设备的工作频率为100Hz。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州明坤电器有限公司,未经杭州明坤电器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202020221106.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top