[实用新型]一种多径环境下RFID标签性能测试装置

说明书

本实用新型涉及一种多径环境下RFID标签性能测试装置，由接收天线、射频接收器、测量与应答处理器、多径模拟器、射频发射器、发射天线和标签组成，接收天线输入端接收标签反射无线电波，输出端通过馈线连接射频接收器输入端，射频接收器输出端连接测量与应答处理器输入端，测量与应答处理器输出端连接多径模拟器输入端，多径模拟器输出端连接射频发射器输入端，射频发射器输出端连接发射天线输入端，发射天线输出端连接标签输入端。本实用新型解决了传统RFID标签性能测试仪器无法分析标签在多径环境下的通信性能的问题，该实用新型可用于协助研究RFID标签的抗干扰技术。该实用新型由模块化仪器构成，系统的升级更换与维修非常方便。

技术领域

本实用新型属于射频识别信号处理领域，具体涉及一种多径环境下RFID标签性能测试装置。

背景技术

随着RFID系统在现代物流、智能交通、生产自动化等众多领域的应用，系统的通信环境也由简单近距离的室内通信向复杂远距离的都市通信发展，在读写器和电子标签之间的无线电信号出现了由于建筑物和其他物体的反射、绕射、散射等引起的多径效应，因此，有必要开展RFID标签在多径效应下的通信性能分析，用以协助研究RFID标签的抗干扰技术。

发明内容

本实用新型的目的在于提出一种多径环境下RFID标签性能测试装置。

本实用新型提出的一种多径环境下RFID标签性能测试装置，由接收天线1、射频接收器2、测量与应答处理器3、多径模拟器4、射频发射器5、发射天线6和标签7组成，其中：接收天线1的输入端接收标签7反射的无线电波，输出端通过馈线连接射频接收器2的输入端，射频接收器2的输出端连接测量与应答处理器3的输入端，测量与应答处理器3的输出端连接多径模拟器4的输入端，多径模拟器4的输出端连接射频发射器5的输入端，射频发射器5的输出端连接发射天线6的输入端，发射天线6的输出端连接标签7的输入端。

本实用新型中，所述射频接收器2、测量与应答处理器3、多径模拟器4和射频发射器5分别和控制器8通过PXI(e)总线进行双向连接。

本实用新型中，标签7为被测RFID标签。

本实用新型的工作过程如下：

接收天线1接收无线电波,并通过馈线传输到射频接收器，射频接收器2接收射频信号，将射频信号下变频到中频；测量与应答处理3器将接收到的中频信号下边频到基带信号，并进行测量和应答处理；根据标签测试内容，发出对应的基带信号，然后将基带信号上变频到中频信号；多径模拟器4先将待发射的中频信号下变频成基带信号，基带信号扩展成6路，这6路信号分别经过时延器和衰减器后进行相加，相加之后的信号上变频到中频输出。其中，这6路时延大小与衰减系数可重配置，可根据不同的模型配置不同的参数。射频发射器5将中频信号上变频到射频信号，并发射出去；发射天线6将射频信号向周围空间辐射出去。

本实用新型的有益效果在于：解决了传统RFID标签性能测试仪器无法分析标签在多径环境下的通信性能的问题，该实用新型可用于协助研究RFID标签的抗干扰技术。该实用新型由模块化仪器构成，系统的升级更换与维修非常方便。

附图说明

图1为本实用新型的结构图示。

图中标号：1为接收天线、2为射频接收器、3为测量与应答处理器、4为多径模拟器、5为射频发射器、6为发射天线、7为标签、8为控制器。

具体实施方式

下面通过实施例进一步说明本实用新型。

实施例1：

如图1所示，本实用新型装置由接收天线1、射频接收器2、测量与应答处理器3、多径模拟器4、射频发射器5、发射天线6、标签7和控制器8组成。将所述部件按图1所示方式连接，该领域技术人员均能顺利实现。