[实用新型]一种间歇寿命试验系统

说明书

本实用新型公开了一种间歇寿命试验系统，属于试验设备技术领域，包括柜体，其特征在于：柜体表面设置独立通道，独立通道左侧下部设置独立开关按钮，独立开关按钮与独立通道电性连接，柜体表面上部设置工业控制计算机，独立通道与工业控制计算机电性连接，工业控制计算机上方水平并排设置开始按钮、停止按钮，工业控制计算机下方设置操作台，独立通道的数量为16个，16个独立通道关于工业控制计算机对称设置，16个独立通道通过485通讯线并联连接，并最终与工业控制计算机电性连接，本实用新型既实现了对独立通道的独立控制，又可根据需要将闲置的独立通道关闭，很好地解决了现有试验系统无法单独控制试验通道且费电的问题。

技术领域

本实用新型涉及试验设备技术领域，具体是一种间歇寿命试验系统。

背景技术

间歇寿命试验是对电路间断地施加电应力，使微电子器件受到“开”“关”之间的电应力周期变化，以加速电路内部的物理、化学反应的过程，这种周期变化的电应力又导致微电子器件和外壳温度的周期变化，由此最终得到微电子器件的典型失效率，证实微电子器件的质量或可靠性，间歇寿命试验及试验系统的设计，对试验的安全性、准确性和可操作性起着关键作用，但现有的试验系统存在一些问题，比如试验通道之间不能相互独立，无法对其进行单独控制，同时，当不需要使用全部的通道时，未使用的通道处于闲置状态，但仍然在耗能，导致对电能的浪费，比如试验系统中未设置K系数(即温度系数)测试装置，客户如需测试K系数，需要另外购买其他设备，导致成本明显增加，这显然是用户不希望看到的，因此，对于用户来说，急需提供一种既能方便对试验通道进行单独控制，又能经济地测量K系数的间歇寿命试验系统。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种间歇寿命试验系统。

一种间歇寿命试验系统，包括柜体，其特征在于：所述柜体表面设置独立通道，所述独立通道左侧下部设置独立开关按钮，所述独立开关按钮与所述独立通道电性连接，所述柜体表面上部设置工业控制计算机，所述独立通道与所述工业控制计算机电性连接，所述工业控制计算机上方水平并排设置开始按钮、停止按钮，所述工业控制计算机下方设置操作台。

进一步的，所述独立通道的数量为16个，16个所述独立通道关于所述工业控制计算机对称设置。

进一步的，16个所述独立通道通过485通讯线并联连接，并最终与所述工业控制计算机电性连接。

进一步的，所述操作台下方设置高温试验箱，所述高温试验箱与所述工业控制计算机电性连接。

进一步的，所述高温试验箱下方设置K系数测试机，所述K系数测试机与所述工业控制计算机电性连接。

进一步的，所述柜体上部一侧水平并排设置蜂鸣器、绿色状态指示灯、红色状态指示灯。

进一步的，所述停止按钮远所述开始按钮一侧设置急停按钮。

进一步的，所述独立通道表面设置观察门。

进一步的，所述柜体底部四个角的位置均设置柜脚。

本实用新型的一种间歇寿命试验系统的有益效果为：

1、各独立通道之间相互独立且并联连接，并且配置独立开关按钮，既实现了对独立通道的独立控制，又可以根据需要将闲置的独立通道关闭，实现了对电能的节约，很好地解决了现有试验系统无法单独控制试验通道且费电的问题；

2、本间歇寿命试验系统配置高温试验箱和K系数测试机，可以很方便地对微电子器件的K系数进行测定，无需再另外购买K系数测试装置，有效地节约了成本；