[实用新型]一种激光器的高低温性能的测试筛选系统

说明书

本实用新型属于光通信技术领域，具体涉及一种激光器的高低温性能的测试筛选系统。将待测激光器组装焊接在光模块上，通过金手指将待测激光器模块插装于光模块测试板的连接插口，放入高低温箱内模拟测试环境的温度，进行测试；光模块测试板的发射端与误码仪的发射端连接，由稳压电源供电；待测激光器模块通过分路器，分别与光功率计和波长计连接；通过光功率计和波长计分别实时监测激光器在常温及高低温工作时的功率及波长的变化情况，通过稳压电源上的电流实时变化来计算激光器在模块上的功耗情况。本实用新型具有兼容性和扩展性，可以针对不同环境、不同封装形式的激光器进行测试筛选，降低产品的批量不良率。

技术领域

本实用新型属于光通信技术领域，具体涉及一种激光器的高低温性能的测试筛选系统。

背景技术

光模块是用于交换机与设备之间传输的载体，而模块的核心性能可以说大部分就由激光器的性能决定。激光器的性能在常温条件下测试完好，甚至十分优异；但在恶劣环境中测试时，激光器会出现产品性能不佳的问题，如高温波长偏移、低温时功耗超出范围、高温时功率不满足要求等。在实际生产中，考虑到产能原因，激光器再生产时一般不会测试产品的高低温性能。现有的在激光器的高低温性能测试中，大多数厂商是直接在激光器测试时进行模拟高低温测试，这样做在高温时勉强可以完成，但是在低温测试时就会遇到产生凝结水汽导致裸露在外的电路和器件会有短路的风险。如果激光器不进行高低温小批量验证测试会导致不良芯片大量投产。由此引发大面积的不良品出现，从而给厂家带来不良影响。

激光器的芯片是按批次进行生产，每个批次的芯片性能会有差异，封装好的器件也会有继承甚至于放大这种差异，如果每批芯片在投产之前进行一个小批量的这类筛选测试，就可以掌握这批芯片的性能对以后的投产会有很大的帮助。

实用新型内容

为解决上述存在的问题，本实用新型提出了一种激光器的高低温性能的测试筛选系统与方法，可通过对激光器的高低温性能进行小批量的筛选，避免大量投产不良芯片，该方法具有测试筛选结果准确，兼容性强等优点。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种激光器的高低温性能的测试筛选系统，包括误码仪、功率计、波长计、分路器、待测激光器模块、光模块测试盒、高低温箱、稳压电源和测试电脑。

所述的待测激光器模块包括待测激光器和光模块，将待测激光器组装焊接在光模块上，通过金手指将待测激光器模块插装于光模块测试盒的连接插口；所述的光模块测试盒放置于高低温箱中，高低温箱用于模拟测试环境，光模块测试盒通过USB与电脑进行通讯连接，随时监测待测激光器模块的实时温度。

所述的光模块测试盒的发射端与误码仪的发射端连接；所述的稳压电源对光模块测试盒供电，稳压电源位于高低温箱外，并通过稳压电源上的电流实时变化来计算激光器在模块上的功耗情况；

所述的待测激光器模块的发射端通过光纤跳线与分路器的输入端连接，分路器的一路输出端通过光纤跳线接入功率计的端口，另一路输出端通过光纤跳线接入波长计的端口；通过光功率计和波长计分别实时监待测测激光器在不同温度环境下工作时的功率及波长的变化情况。

一种激光器的高低温性能的测试筛选方法，采用上述测试筛选系统，具体步骤如下：

(1)常温测试：首先测试常温下的产品数据，并实时观察电脑软件上的待测激光器真实的温度上报值，待上报温度稳定后，记录波长计的波长、功率计的功率值、稳压电源的电流值。

(2)高温测试：打开高低温箱，设置箱内温度60℃进行高温测试，并实时观察电脑软件上的待测激光器真实的温度上报值；待上报温度稳定后，记录波长计的波长、功率计的功率值、稳压电源的电流值，并通过电流值计算出功耗值；再将高低温箱的温度值设定65℃，重复操作；以此类推以5℃为单位依次提高高低温箱的温度，待每次温度稳定后重复操作，直至波长、功率或功耗超出范围，或电脑软件的上报温度超过85℃时，则停止高温测试。