[实用新型]一种大豆坏粒检测去除装置

说明书

本实用新型提供了一种大豆坏粒检测去除装置，属于粮食质量检测领域，包括底箱、设置在所述底箱上部的下料筒以及设置在所述下料筒上部的储料箱，所述下料筒内壁由上至下依次安装有补光灯、检测器以及气枪，所述储料箱呈锥形结构，储料箱底部相对两侧开设有缺口，两组所述缺口内转动设置有活动板，两组所述活动板底部与储料箱之间设置有排料口。本实用新型实施例中，外部电机通过转轴带动齿轮转动，利用齿轮侧面的齿片依次作用于挡块，在弹性体的配合下，挡块带动活动板在缺口内部振动，从而带动汇集在排料口处的大豆振动，避免了大豆在排料口处产生堵塞现象，保证了大豆检测的正常进行。

技术领域

本实用新型属于粮食质量检测领域，具体是一种大豆坏粒检测去除装置。

背景技术

大豆在长期放置时，会受到空气以及环境气候的影响，容易发霉，因此在大豆出售或者加工时需要对发霉的豆子进行去除。

目前，对于发霉大豆的去除大多是依靠色选机进行的，利用检测系统检测出发霉大豆，再配合气枪等喷气机构将发霉大豆从成品大豆中吹出，实现发霉豆子的取出。但是大豆在进行色选时涉及到供料机构，以保证大豆能够均匀有序的从检测系统以及喷气机构中穿过，然而现有的供料机构存在容易堵料的缺陷，从而降低大豆的筛选效果。

实用新型内容

针对上述现有技术的不足，本实用新型实施例要解决的技术问题是提供一种大豆坏粒检测去除装置。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了如下技术方案：

一种大豆坏粒检测去除装置，包括底箱、设置在所述底箱上部的下料筒以及设置在所述下料筒上部的储料箱，所述下料筒内壁由上至下依次安装有补光灯、检测器以及气枪，所述储料箱呈锥形结构，储料箱底部相对两侧开设有缺口，两组所述缺口内转动设置有活动板，两组所述活动板底部与储料箱之间设置有排料口，所述下料筒内部还设置有用于带动两组所述活动板振动的激振组件，所述激振组件包括齿轮以及设置在所述活动板外侧与所述齿轮啮合的挡块，所述齿轮通过转轴与外部电机相连，所述活动板与储料箱之间还通过弹性体相连。

作为本实用新型进一步的改进方案：所述弹性体为弹簧。

作为本实用新型进一步的改进方案：所述缺口上部安装有两组相对设置的固定块，两组所述固定块之间通过销杆相连，所述活动板上部与所述销杆转动配合。

作为本实用新型进一步的改进方案：所述底箱内部设置有将底箱分隔成成品储存室以及废品储存室的隔板。

作为本实用新型再进一步的改进方案：所述隔板呈竖向设置，且隔板位于所述排料口左下方。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型实施例中，外部电机通过转轴带动齿轮转动，利用齿轮侧面的齿片依次作用于挡块，在弹性体的配合下，挡块带动活动板在缺口内部振动，从而带动汇集在排料口处的大豆振动，避免了大豆在排料口处产生堵塞现象，保证了大豆检测的正常进行。

附图说明

图1为一种大豆坏粒检测去除装置的结构示意图；

图2为图1中A区域放大示意图；

图3为一种大豆坏粒检测去除装置中储料箱的结构示意图；

图中：1-底箱、2-良品储存室、3-下料筒、4-气枪、5-检测器、6-补光灯、7-储料箱、8-活动板、9-排料口、10-隔板、11-废品储存室、12-齿轮、13-转轴、14-固定块、15-销杆、16-弹性体、17-挡块。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。