[实用新型]一种光电传感器集成电路

说明书

本申请实施例公开了一种光电传感器集成电路，包括控制模块、电源模块、信号输入模块、信号处理模块以及信号输出模块；控制模块包括主控MCU、晶振电路和配置单元，配置单元包括放大倍数设定部和过滤阈值设定部，放大倍数设定部和过滤阈值设定部均与主控MCU相连；信号处理模块包括差分处理单元和单端处理单元；差分处理单元包括差分放大部和信号过滤电路，差分放大部与信号过滤电路相连，信号过滤电路与过滤阈值设定部相连；单端处理单元包括差分转单端电路和单端放大电路，差分转单端电路与信号过滤电路相连。本申请的光电传感器集成电路，通用性强，输出精度高，稳定性好。

技术领域

本申请涉及光电传感器电路技术领域，具体是一种光电传感器集成电路。

背景技术

光电传感器是通过把光强度的变化转换成电信号的变化来实现控制的。光电传感器一般由发送器、接收器和检测电路三个部分构成。其具体工作步骤为：发送器对准目标发射光束，发射的光束一般来源于半导体光源，发光二极管、激光二极管及红外发射二极管。光束不间断地发射，或者改变脉冲宽度。接收器有光电二极管、光电三极管、光电池组成。在接收器的前面，装有光学元件如透镜和光圈等。在接收器后面是检测控制电路，它能输出有效信号。

现有技术中光电传感器的检测电路，通常是由分立元件、单片机和PCB板等搭建而成，一般为了提高光电传感器的输出精度，在电路设计时，会选择与光电传感器中接收器、发送器相适配的电路元件，针对单种类型光电传感器进行检测电路的设计。这样做的好处是，提高了光电传感器的输出精度。但是，由于检测环境的多样性，需要使用多种光电传感器时，则需要搭载多种检测电路，造成现有技术中的光电传感器的检测电路通用性差，且通过搭载而成的电路存在抗干扰能力差的问题，极大地影响了光电传感器的稳定性。

实用新型内容

本实用新型旨在解决上述技术问题，提供一种光电传感器集成电路，通过主控MCU对放大倍数设定部和过滤阈值设定部进行参数设置，使集成电路能够适配多种光电传感器，并在设定好的适合的放大倍数和过滤参数下，使信号输出模块稳定地输出有效信号，提高集成电路的通用性和稳定性。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种光电传感器集成电路，包括控制模块、电源模块、信号输入模块、信号处理模块以及信号输出模块；所述控制模块包括主控MCU、晶振电路和配置单元，所述晶振电路和配置单元分别与所述主控MCU通讯相连，所述配置单元包括放大倍数设定部和过滤阈值设定部，所述放大倍数设定部和所述过滤阈值设定部均与所述主控MCU相连；所述电源模块与所述主控MCU通讯相连；所述信号处理模块包括依次相连的差分处理单元和单端处理单元；所述差分处理单元包括差分放大部和信号过滤电路，所述差分放大部的输入端与所述信号输入模块相连，所述差分放大部的输出端与所述信号过滤电路的输入端相连，所述信号过滤电路与所述过滤阈值设定部相连；所述单端处理单元包括差分转单端电路和单端放大电路，所述差分转单端电路的输入端与所述信号过滤电路的输出端相连，所述差分转单端电路的输出端与所述单端放大电路的输入端相连；所述信号输出模块分别与所述主控MCU和所述单端放大电路的输出端相连。

基于上述结构，通过主控MCU对放大倍数设定部进行参数设置，用于控制差分放大部和单端放大电路的放大倍数，通过主控MCU对过滤阈值设定部进行参数设置，用于对信号过滤电路的信号过滤参数进行设置，从而在搭载不同种光电传感器时，仅需要调整外接零件的电气参数，就能设定不同的信号处理参数，使信号输出模块稳定地输出有效信号，提高了集成电路的通用性和稳定性。

作为优选，所述信号输入模块包括光敏元件RX1和保护电阻器R1；所述光敏元件RX1的正极与所述保护电阻器R1一端相连，所述光敏元件RX1的负极接地，所述光敏元件RX1的正极和负极分别与所述差分放大部相连；所述保护电阻器R1另一端与所述电源模块相连。

进一步地，通过光敏元件RX1和保护电阻器R1构成的信号输入模块，简化了信号输入模块的结构，进而减小本申请光电传感器集成电路的体积，提高电路在匹配多种光电传感器时的便利。