[实用新型]集成电路高温老化测试装置

权利要求书

1.一种集成电路高温老化测试装置，其特征在于，包括上位机、监控模块、电源管理模块、通用模块和专用模块，其中，

所述上位机与监控模块连接，用于与监控模块通信；

所述监控模块分别与上位机、电源管理模块连接，用于根据上位机命令执行相应的操作，并监控待测试芯片的IO信号；

所述电源管理模块分别与监控模块、通用模块连接，用于通用模块的供电；

所述通用模块分别与电源管理模块、专用模块连接，用于配置待测试芯片的通用电路；

所述专用模块与通用模块连接，用于配置待测试芯片的必要外围电路。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述通用模块上包括多个通道，每个通道上包括多个专用工位，所述专用工位用于放置所述专用模块。

3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，不同通道所对应的待测试芯片不同或相同。

4.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，同一通道所对应的待测试芯片相同。

5.如权利要求1-4任一项所述的测试装置，其特征在于，所述监控模块进一步监控通用模块的供电电压。

6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括与监控模块连接的存储器，所述存储器用于存储待测试芯片的测试信息。