[实用新型]半导体晶圆的持取装置有效
申请号: | 202020323500.X | 申请日: | 2020-03-16 |
公开(公告)号: | CN211605120U | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 张文 | 申请(专利权)人: | 上海晶盟硅材料有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 上海脱颖律师事务所 31259 | 代理人: | 李强 |
地址: | 201707 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
1.一种半导体晶圆的持取装置,包括伯努利棒,伯努利棒具有头部和颈部,其特征在于在头部两侧布置有多个隔开于伯努利棒的接触脚,在持取半导体晶圆时,所述的接触脚与半导体晶圆的侧边缘接触从而对半导体晶圆进行限位,所述的接触脚与半导体晶圆接触的位置具有圆弧形倒角。
2.如权利要求1所述的持取装置,其特征在于在颈部的两侧还布置有多个隔开于努利棒的接触脚。
3.如权利要求1或2所述的持取装置,其特征在于包括隔开于伯努利棒的连接杆,接触脚由连接杆连接。
4.如权利要求3所述的持取装置,其特征在于伯努利棒的两侧均布置有连接杆,同侧的接触脚由同侧的连接杆连接。
5.如权利要求3所述的持取装置,其特征在于包括用于夹持连接杆的夹具,夹具固定在伯努利棒的颈部。
6.如权利要求3所述的持取装置,其特征在于所述的连接杆为石英材质。
7.如权利要求1所述的持取装置,其特征在于伯努利棒中具有用于在晶圆上方产生负压的伯努利气体通道。
8.如权利要求7所述的持取装置,其特征在于气体通道包括在颈部的主管和在头部中的支管,在头部下方分布有气体出口,气体出口与支管连通。
9.如权利要求1所述的持取装置,其特征在于所述的接触脚为石英材质。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造