[实用新型]数字PCIE接口测试装置

说明书

数字PCIE接口测试装置，属于接口测试领域，PCIE数据传输内循环单元与PCIE接口转换单元相连接，PCIE数据传输内循环单元与MCU控制单元连接，时钟发生电路与PCIE数据传输内循环单元连接，外扩I2C控制电路分别与PCIE数据传输内循环单元和MCU控制单元连接，效果是兼容通用网络接口，能够实时提供测试数据的传输，能够提供PCIE3x8和PCIE3x16接口电路，可以同时对两种PCIE外接设备进行数据采集和控制。

技术领域

本实用新型属于接口测试领域，更具体地说，涉及一种新型数字PCIE接口测试装置。

背景技术

随着计算机技术不断发展和升级换代，计算节对于数据处理速度的要求越来越高，特别的内存和主板以及CPU之间的传输速率要求很高，通常连接主板和内存之间会使用到PCIE连接器进行连接。随着科技的发展，PCIE的更新换代也越来越快，速度越来越高，几乎取代了以往所有的内部总线。PCIE能够支持热插拔和热交换的特性，分别能够支持3.3V，3.3Vaux以及12V的输入电压。为了支持现在视频，游戏项目的发展，现在显卡功耗显著增加，PCIE而后在规范中改善了直接从插槽中取电的功率限制,现阶段，16x的最大功率可以达到75W。PCIE保证了兼容性，支持PCI的操作系统无需进行任何更改即可支持PCIE总线。这也给用户的升级带来方便。由此可见，PCIE最大的意义在于它的通用性，不仅可以让它用于南桥和其他设备的连接，也可以延伸到芯片组间的连接，甚至也可以用于连接图形处理器，这样，整个I/O系统重新统一起来，将更进一步简化计算机系统，增加计算机的可移植性和模块化。PCIE技术从2002年发布第一代标准之后，经过十多年的发展，现阶段已经公布了第五代的标准，但是，市场上主要使用的是第二代的标准技术，第三代标准技术只是在新研发的机型上开始使用。使用第三代标准技术可以使传输速率达到8GB/s，现行市场上用来测试PCIE接口的装置大都不能提供高功率，全速度的测试，并且测试装置都比较复杂，不利于连接，在线测试。

发明内容

为了解决测试PCIE接口的装置功率低的问题，本实用新型提出如下技术方案：一种数字PCIE接口测试装置，包括MCU控制单元、时钟发生电路、PCIE接口转换单元、PCIE数据传输内循环单元和外扩I2C控制电路；PCIE数据传输内循环单元与PCIE接口转换单元相连接，PCIE数据传输内循环单元与MCU控制单元连接，时钟发生电路与PCIE数据传输内循环单元连接，外扩I2C控制电路分别与PCIE数据传输内循环单元和MCU控制单元连接。

进一步的，所述的PCIE接口转换单元包括信号ESD保护电路、PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器、信号缓存电路、信号隔离电路、信号通道选择电路，信号ESD保护电路分别与PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器连接，PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器均与信号缓存电路连接，信号缓存电路与信号隔离电路连接，信号隔离电路与信号通道选择电路连接。

进一步的，所述的PCIE数据传输内循环单元包括均与数据传输转换电路连接的PCI信号扩展接口电路、配置寄存器设置电路、EEPROM，PCI信号扩展接口电路与配置寄存器设置电路连接，所述时钟发生电路与数据传输转换电路连接，PCI信号扩展接口电路与所述的信号通道选择电路连接。

进一步的，所述的数字PCIE接口测试装置还包括网络接口单元，网络接口单元与MCU控制单元连接。

进一步的，所述的数字PCIE接口测试装置还包括外部电源输入单元、外部负载连接单元，外部电源输入单元与外部负载连接单元连接，MCU控制单元连接在外部电源输入单元与外部负载连接单元的接线上。

进一步的，所述的数字PCIE接口测试装置还包括电源输入模块，电源输入模块分别与MCU控制单元、PCIE数据传输内循环单元连接。