[实用新型]可标定物面位置的连续变倍显微镜

说明书

本实用新型公开了一种可标定物面位置的连续变倍显微镜，涉及光学仪器制造技术领域，包括有显微镜主体，显微镜主体的上端设有图像传感器，图像传感器的像面中心与显微镜主体的光轴重合，图像传感器的信号输出端与显示器的信号输入端连接；显微镜主体的底部设有物镜，在物镜与显微镜主体之间装有分光镜座，分光镜座内腔装有与光轴成45度角设置的半透半反分光片；在分光镜座的一侧装有进光筒，进光筒内装有红光激光器，红光激光器的出光轴线与半透半反分光片成45度角设置，出光轴线、光轴与半透半反分光片的交点重合。与现有技术相比，采用本实用新型可以快速找到被观察物视场中心，检查方便，工作效率大幅度提高，能够满足大批量生产的需要。

技术领域

本实用新型涉及光学仪器制造技术领域，尤其是一种可标定物面位置的连续变倍显微镜。

背景技术

连续变倍显微镜是指放大倍数可以在一定范围内连续无极调整的光学显微镜，具有高分辨率、高对比度成像的特点，特别适用于工业测量、半导体、微电子元件等的观察和检测。现有的连续变倍显微镜，包括装有连续变倍光学系统的显微镜主体，显微镜主体上设有变倍圈，在显微镜主体的底部设有物镜，上端设有图像传感器，图像传感器的像面中心与显微镜主体的光轴重合，图像传感器的信号输出端与显示器的信号输入端连接。在工业生产中，采用这种连续变倍显微镜检查一种零件时，将零件放置于物镜的下方，在水平方向移动零件，使零件的被检查部位移动到显微镜主体的光轴正下方的位置，才能在图像传感器的像面上找到对应的零件位置，从而在显示器进行图像显示。由于在零件表面上没能显示出光轴投影的位置，检查一个零件需要在水平方向反复移动，工作效率低，无法满足大批量生产的需要。

实用新型内容

本实用新型所要解决的问题是提供一种可标定物面位置的连续变倍显微镜，它可以解决采用现有连续变倍显微镜检查零件的工作效率低，无法满足大批量生产需要的问题。

为了解决上述问题，本实用新型采用的技术方案是：这种可标定物面位置的连续变倍显微镜，包括有显微镜主体，所述显微镜主体的上端设有图像传感器，所述图像传感器的像面中心与所述显微镜主体的光轴重合，所述图像传感器的信号输出端与显示器的信号输入端连接；所述显微镜主体的底部设有物镜，在所述物镜与所述显微镜主体之间装有分光镜座，所述分光镜座内腔装有与所述光轴成45度角设置的半透半反分光片；在所述分光镜座的一侧装有进光筒，所述进光筒内装有红光激光器，所述红光激光器的出光轴线与所述半透半反分光片成45度角设置，所述出光轴线、所述光轴与所述半透半反分光片的交点重合。

上述可标定物面位置的连续变倍显微镜技术方案中，更具体的技术方案还可以是：所述进光筒沿圆周分布有用于调整所述红光激光器的出光轴线与所述半透半反分光片成45度角的调节螺钉。

进一步的，所述分光镜座套装于所述显微镜主体的连接筒部，所述分光镜座设有与所述连接筒部配合的连接孔并沿圆周分布有紧定螺钉。

进一步的，所述物镜具有与所述分光镜座连接的物镜座，所述物镜座内装有物镜透镜和位于所述物镜透镜底部的压圈。

进一步的，所述红光激光器的发光波长为650纳米。

由于采用了上述技术方案，本实用新型与现有技术相比具有如下有益效果：

1、本实用新型在物镜的上方装有半透半反分光片和红光激光器，红光激光器发出的红光线被半透半反分光片反射向下，通过物镜会聚于在其下方的被观察物面上形成点状光斑，该点状光斑即是光轴投影的位置，只要将被观察物待检查的部位置于点状光斑所在位置，就能在图像传感器的像面上找到对应的物体位置，从而在显示器进行图像显示，不需要在水平面上反复移动被观察物，就可以快速找到被观察物视场中心，检查方便、快捷，工作效率大幅度提高，能够满足大批量生产的需要。

2、进光筒沿圆周分布有用于调整红光激光器的出光轴线与半透半反分光片成45度角的调节螺钉；通过调节螺钉调整红光激光器发出的红光线被半透半反分光片反射向下，射到被观察物面的点状光斑成像在图像传感器的像面中心。