[实用新型]一种动态干法颗粒图像分析仪有效

专利信息
申请号: 202020362324.0 申请日: 2020-03-20
公开(公告)号: CN211652438U 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 秦一博;任飞;颜威 申请(专利权)人: 济南微纳颗粒仪器股份有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 山东众成清泰律师事务所 37257 代理人: 牟迅
地址: 250101 山东省济南市高新*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 动态 颗粒 图像 分析
【说明书】:

一种动态干法颗粒图像分析仪,包括底板,底板上依次设置平行光源、设有测试窗的测试区域、镜头,还包括料斗,料斗底端与料槽一端连接,料槽安装在振动送料器上,料槽另一端对应测试区域的进料漏斗;其特征在于:所述镜头包括第一远心镜头和第二远心镜头,所述测试区域为双平行光路测试区域,在镜头与双平行光路测试区域之间设有用于将平行光源发射的平行光分成互相平行的两束平行光的分光棱镜组,所述第一远心镜头和第二远心镜头分别位于该两束平行光的前进光路上;本设计采用双光路镜头设计,能够测试宽分布颗粒;仪器采用干法分散中自由落体和压缩空气两种结合的方式,除了能够测试松散度较好的大颗粒外,还可以测试粒径较小团聚性的颗粒。

技术领域

本实用新型涉及颗粒测量领域,尤其涉及一种动态干法颗粒图像分析仪。

背景技术

动态颗粒图像仪国内市场主要采用振动送料,颗粒自由落体分散方式对颗粒进行粒度粒形测试,仪器包括:振动送料器、平行光路、高速相机和上位机图像处理单元。颗粒通过振动送料器振动,自由落体经过图像测试区域,高速相机对测试区域图像进行快速采集,同时传输给上位机,上位机对颗粒图像进行快速分析,可得到颗粒的粒度粒形信息。

当前国内动态颗粒图像仪设计主要有一下缺点不足:

1.只能分析松散性分散效果比较好的大颗粒,该分散模式对于有团聚现象的颗粒不能够进行有效分散;

2.单镜头设计,同一时间只能测量一段范围内的颗粒,对于分布宽的颗粒,不能给出完整的测试数据结果。

针对上面所说的两点不足,本仪器采用新的设计来改进当前不足。

发明内容

为了解决现有技术中存在的缺陷,本实用新型提供了一种动态干法颗粒图像分析仪。

具体技术方案为:一种动态干法颗粒图像分析仪,包括底板,底板上依次设置平行光源、设有测试窗的测试区域、镜头,还包括料斗,料斗底端与料槽一端连接,料槽安装在振动送料器上,料槽另一端对应测试区域的进料漏斗;其特征在于:所述镜头包括第一远心镜头和第二远心镜头,所述测试区域为双平行光路测试区域,在镜头与双平行光路测试区域之间设有用于将平行光源发射的平行光分成互相平行的两束平行光的分光棱镜组,所述第一远心镜头和第二远心镜头分别位于该两束平行光的前进光路上。

进一步的,所述进料漏斗末端还可以连接文丘里管,文丘里管的透光窗口对应着测试窗。

进一步的,所述文丘里管一端为压缩空气进气口,另一端连接负压装置。

进一步的,所述的双平行光路测试区域装置上方两侧设有第一进气孔和第二进气孔,每个进气孔末端还设有两个扁平口,扁平口位于该测试区域的内部两侧上端,位置高过测试窗。

进一步的,所述的双平行光路测试区域末端连接负压装置。

进一步的,所述料斗与料槽之间的高度间隙可调节。

进一步的,所述的第二远心镜头3为X0.3,X2两种远心镜头中的一种,第一远心镜头2为其中的另一种。

本实用新型的有益效果为:仪器采用双光路镜头设计,能够测试宽分布颗粒;双镜头设计仪器上位机算法数据拟合;仪器采用干法分散中自由落体和压缩空气两种结合的方式,除了能够测试松散度较好的大颗粒外,还可以测试粒径较小团聚性的颗粒。

附图说明

图1为本实用新型提供的颗粒图像分析仪结构示意图;

图2为本实用新型提供的颗粒图像分析仪立体示意图;

图3为双平行光路测试区域示意图;

图4为双平行光路测试区域示意图;

图5为文丘里管示意图。

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