[实用新型]FT测试烤箱周转车

说明书

本实用新型公开了一种FT测试烤箱周转车，其包括具有一容置腔的车架主体、安装于车架主体底部的滑轮以及一承托架，车架主体包括底架及安装于底架上的容置架，容置架内安装有一托板，容置架与托板围出容置腔，承托架设置于容置腔中并盛放于托板上，容置架的一侧面设有供承托架进出容置腔的进出料口，承托架沿车架主体的上下方向设有多层开放式的承托空间，承托架上在每一承托空间的旁侧设有一存储有所在层信息的条码件。本实用新型的FT测试烤箱周转车在使用时能简化取放过程并有效防止混料。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种FT测试烤箱周转车。

背景技术

在集成电路芯片的制造过程中，为了保证出厂的芯片都是没问题的，一般会对芯片进行FT测试(final test)，而FT测试涉及到对芯片的烘烤工序。目前的FT测试的主要流程是，从胶框取出盛放有芯片的tray盘放进烤箱中，在烤箱中烘烤芯片，完成测试后从烤箱中逐一取出tray盘放到周转车上，推动周转车至指定位置并从周转车取下tray盘到冷却台上，所以芯片的FT测试每进出一捆tray盘都要取放三次，过程繁复，且容易弄混不同批次的产品。

因此，亟需要一种简化取放过程并有效防止混料的FT测试烤箱周转车来克服上述缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种简化取放过程并有效防止混料的FT测试烤箱周转车。

为实现上述目的，本实用新型的FT测试烤箱周转车包括具有一容置腔的车架主体、安装于所述车架主体底部的滑轮以及一承托架，所述车架主体包括底架及安装于所述底架上的容置架，所述容置架内安装有一托板，所述容置架与所述托板围出所述容置腔，所述承托架设置于所述容置腔中并盛放于所述托板上，所述容置架的一侧面设有供所述承托架进出所述容置腔的进出料口，所述承托架沿所述车架主体的上下方向设有多层开放式的承托空间，所述承托架上在每一所述承托空间的旁侧设有一存储有所在层信息的条码件。

较佳地，所述承托架具有沿所述车架主体的上下方向布置的多个隔层部，相邻两所述隔层部围出所述承托空间。

较佳地，所述承托架呈滚动地设于所述容置腔中。

较佳地，所述承托架的底部安装有多个滚轮。

较佳地，所述容置架上可拆卸地设有若干根挡杆，所述挡杆伸置于所述进出料口中以阻挡所述承托架滑出所述容置腔。

较佳地，所述车架主体还包括一首尾敞开并呈环状的车把，所述车把包括握把部及两安装于所述握把部端部的支撑部，所述支撑部安装于所述底架并相对所述容置架呈倾斜布置，所述握把部位于所述容置架的背部外侧。

较佳地，所述承托架为一桁架式的框架结构，所述隔层部包括多根相互平行且间隔布置的承托杆，所述承托杆安装于所述承托架上。

较佳地，所述容置架为一桁架式的框架结构，所述容置架内至少安装有两呈上下间隔布置的托板，所述FT测试烤箱周转车上设有多个所述承托架，每一所述承托架各对应放置于一所述承托空间中。

较佳地，所述容置架上开设有多个穿置通孔，所述挡杆呈活动地设置于所述穿置通孔并呈竖直布置地伸至于所述进出料口中。