[实用新型]一种X射线衍射仪用可快速更换的多位薄膜样品架有效
申请号: | 202020383306.0 | 申请日: | 2020-03-24 |
公开(公告)号: | CN212059989U | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 宋新月;张吉东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春应用化学研究所 |
主分类号: | G01N23/20025 | 分类号: | G01N23/20025 |
代理公司: | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人: | 王丹阳 |
地址: | 130000 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 衍射 仪用可 快速 更换 薄膜 样品 | ||
本实用新型为一种X射线衍射仪用可快速更换的多位薄膜样品架,涉及X射线衍射测试领域,解决了现有技术中大规模薄膜X射线衍射测试时一个一个更换样品比较繁琐的问题。包括:多位薄膜样品台,通过多位薄膜样品台装载多个薄膜样品;以及转接块,通过转接块使多位薄膜样品台装载在衍射仪的电动位移台上。本实用新型操作简单,可以实现多个薄膜样品的固定和快速自动切换,减少了以往在更换样品时需要一个一个放入的繁琐与占用时间问题,更能避免人为造成的测试空挡期。
技术领域
本实用新型涉及X射线衍射测试技术领域,特别涉及一种X射线衍射仪用可快速更换的多位薄膜样品架。
背景技术
X射线衍射法是表征材料晶体结构的最常用方法,具有非常多的应用。在各类样品中薄膜样品是一种很常见的样品,它指在基底上制备的毫米级到纳米级材料。
由于不同薄膜样品的基底大小、薄厚有差别,而且待测薄膜部分非常薄,因此样品在测试前需要进行严格的位置对准;此外由于薄膜样品衍射信号比较弱,所以一般测试时间通常比较长,在几十分钟量级,这也造成了目前的衍射仪测试时都是一个样品测试完更换另一个样品。但是这样比较费事,而且通常出现更换样品不及时的现象,影响了整体测试效率。多位样品台是解决这个问题的一个方法。但是目前商业化的衍射中只有针对粉末样品的多位样品台,而由于薄膜样品测试前需要进行样品对准,这种多位样品台不能直接用于薄膜样品的X射线衍射测试。此外已有的电动平移样品台一般只用于放置一个样品,放置多个样品时没有位置指示,无法在测试程序中控制样品的精确移动和定位;同时此种样品台由金属制成,表面光滑,在移动时会发生样品位置漂移的问题。故此针对薄膜X射线衍射需求开发一种基于电动平移台的一种X射线衍射仪用可快速更换的多位薄膜样品架显得十分必要。
实用新型内容
本实用新型要解决现有技术中大规模薄膜X射线衍射测试时一个一个更换样品比较繁琐的技术问题,提供一种X射线衍射仪用可快速更换的多位薄膜样品架。
为了解决上述技术问题,本实用新型的技术方案具体如下:
一种X射线衍射仪用可快速更换的多位薄膜样品架,包括:
多位薄膜样品台,通过所述多位薄膜样品台装载多个薄膜样品;
以及转接块,通过所述转接块使所述多位薄膜样品台装载在衍射仪的电动位移台上。
优选的,所述多位薄膜样品台包括多位薄膜样品台基板、设置于所述多位薄膜样品台基板上的样品位置指示刻线以及涂于所述多位薄膜样品台基板上并覆盖在所述样品位置指示刻线上的弹性体涂层;
通过所述样品位置指示刻线指示薄膜样品放置位置,通过所述弹性体涂层黏住薄膜样品以固定薄膜样品。
优选的,所述样品位置指示刻线包括:
纵向刻线,所述纵向刻线处于所述多位薄膜样品台基板中轴位置;
以及横向刻线,所述横向刻线与所述纵向刻线之间相互纵横设置且所述横向刻线为相互平行的多个且延所述纵向刻线延伸方向等间距设置。
优选的,所述弹性体涂层为交联的PDMS弹性体。
优选的,所述转接块包括:
转接块基体,所述转接块基体朝向衍射仪的电动位移台的一侧为固定面,所述转接块基体朝向所述多位薄膜样品台基板的一侧为拼接面。
优选的,所述转接块基体的拼接面上开设有凹槽,所述凹槽内侧开设有用以与衍射仪的电动位移台通过螺丝进行装配的螺丝通孔;
所述转接块基体的固定面与衍射仪的电动位移台相接触。
优选的,所述转接块基体的拼接面上设有转接端定位柱;
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