[实用新型]一种厚膜发热电阻快速老化装置有效

专利信息
申请号: 202020387211.6 申请日: 2020-03-24
公开(公告)号: CN211994719U 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 陈文卓;曹永茂;冷正超;王吉刚 申请(专利权)人: 山东华菱电子股份有限公司
主分类号: B41J2/335 分类号: B41J2/335;B41J2/14
代理公司: 威海科星专利事务所 37202 代理人: 于涛
地址: 264209 山东省威*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 发热 电阻 快速 老化 装置
【说明书】:

实用新型提出一种厚膜发热电阻快速老化装置,其包括控制模块,控制模块分别与加热模块、电脉冲发生模块、测温模块、测阻模块相连,加热模块用于给放置厚膜发热电阻基板的加热台进行加热;测温模块用于实时测量加热台的温度;测阻模块用于测量厚膜发热电阻基板中发热电阻体的阻值;电脉冲发生模块与探针模块相连,探针模块内的个别电极探针及共同电极探针用于与发热电阻体相连,电脉冲发生模块根据控制模块的控制产生预期电平值的电脉冲,控制模块控制该电脉冲的循环次数。上述厚膜发热电阻快速老化装置配合老化方法的使用,采用外部加热与发热电阻体自身发热协同作用,加剧电荷振动,加速内部残存电荷快速耗散。

技术领域

本实用新型涉及热敏打印技术领域,尤其涉及一种厚膜发热电阻快速老化装置。

背景技术

厚膜发热电阻采用导电颗粒与玻璃粉混合,然后采用烧结的方式制成,厚膜发热电阻的电阻体内导电颗粒与玻璃绝缘性粒子混合,这样既存有导电颗粒物相互接触形成的导电链,也存有由玻璃与导电颗粒形成的微小电容,如图1-2所示。

由于热敏打印头领域,微小尺寸厚膜发热电阻只能采用无损型高压放电脉冲进行电阻值调整,在采用高压放电修阻后,内部由玻璃与导电颗粒形成的微小电容会残存部分电荷,残余电荷造成电阻值测试存在误差,且残余电荷需要100小时以上的时间才能耗散完毕,电荷耗散过程中电阻值会缓慢降低,导致厚膜发热电阻体电阻值存在持续变化,影响产品的质量。

实用新型内容

为了解决现有技术中存在的问题,本实用新型提出了一种厚膜发热电阻快速老化装置,以便通过外部加热与施加电脉冲自发热相结合的方法,快速耗散厚膜发热电阻内残余电荷,解决厚膜发热电阻在放电修阻后电阻值持续变化偏离目标值的问题。

为了实现上述目的,本实用新型提出了一种厚膜发热电阻快速老化装置,包括控制模块,所述控制模块分别与加热模块、电脉冲发生模块、测温模块、测阻模块相连接,其中所述加热模块用于给放置厚膜发热电阻基板的加热台进行加热;所述测温模块用于实时测量所述加热台的温度,并将测量值传送至控制模块;所述测阻模块用于测量厚膜发热电阻基板中发热电阻体的阻值,并将测量结果传送至控制模块;所述电脉冲发生模块与探针模块相连接,所述探针模块内的个别电极探针以及共同电极探针用于与厚膜发热电阻基板中的发热电阻体相连接,所述电脉冲发生模块根据控制模块的控制产生预期电平值的电脉冲,并且控制模块控制该电脉冲的循环次数。

本实用新型的该方案的有益效果在于上述厚膜发热电阻快速老化装置配合老化方法的使用,采用外部加热与发热电阻体自身发热协同作用,加剧电荷振动,加速内部残存电荷快速耗散,可实现30min-60min内完成20000个高电压脉冲放电修阻后的厚膜发热电阻体的残余电荷快速耗散,使发热电阻体的电阻值波动<0.5%。

附图说明

图1示出了厚膜发热电阻体内微观电容结构示意图。

图2示出了厚膜发热电阻的电容-电阻特性等效原理图。

图3示出了本实用新型所涉及的厚膜发热电阻快速老化装置的原理示意图。

图4示出了本实用新型所涉及的各功能模块的电路原理示意图。

图5示出了本实用新型所涉及的测阻模块的电路原理图的放大图。

图6示出了本实用新型所涉及的测温模块的电路原理图的放大图。

图7示出了本实用新型所涉及的加热模块的电路原理图的放大图。

图8示出了本实用新型所涉及的电脉冲发生模块的电路原理图的放大图。

附图标记:1-控制模块,2-加热模块,3-厚膜发热电阻基板,4-电脉冲发生模块,5-探针模块,6-测温模块,7-测阻模块。

具体实施方式

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