[实用新型]一种半导体器件检测用四探针测试仪

说明书

本实用新型公开了一种半导体器件检测用四探针测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上端中部固定连接有等距分布的减震弹簧，所述测试仪本体左右两侧上端均固定连接有卡块，所述测试仪本体上端活动连接有测试架底板，所述测试架底板上端固定连接有左右对称设置的垂直侧板，所述垂直侧板和另一垂直侧板间固定连接有顶板，所述顶板上开设有螺纹孔，所述螺纹孔内螺纹连接有丝杆，所述丝杆下端转动连接有固定座，所述固定座下端固定连接有安装座。该半导体器件检测用四探针测试仪，提高装置的稳定性，缩小装置占地面积，进一步提高测试仪本体与测试架底板间连接的牢固性，提高测试架底板的减震效果，有效提高安装座上下移动时的平稳性。

技术领域

本实用新型涉及半导体检测设备技术领域，具体为一种半导体器件检测用四探针测试仪。

背景技术

半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。

随着通信技术的迅速发展，半导体器件因其性能优异、体积小、重量轻等优点，在多个领域得到广泛的应用，为了确保产品性能合格、稳定可靠，因此需要对半导体器件进行检测，但是现有的半导体检测装置一般为分体式结构，占地面积较大，不方便摆放和整理，并且稳定性较差的缺点。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体器件检测用四探针测试仪，以解决上述背景技术中提出现有的半导体检测装置一般为分体式结构，占地面积较大，不方便摆放和整理，并且稳定性较差的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体器件检测用四探针测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上端中部固定连接有等距分布的减震弹簧，所述测试仪本体左右两侧上端均固定连接有卡块，所述测试仪本体上端活动连接有测试架底板，所述测试架底板上端固定连接有左右对称设置的垂直侧板，所述垂直侧板和另一垂直侧板间固定连接有顶板，所述顶板上开设有螺纹孔，所述螺纹孔内螺纹连接有丝杆，所述丝杆下端转动连接有固定座，所述固定座下端固定连接有安装座。

优选的，所述安装座前端依次固定连接有连接杆和测试头，所述垂直侧板内侧开设有滑动槽，所述滑动槽内滑动连接有滑动杆，所述滑动杆和另一滑动杆间固定连接有安装座。

优选的，所述测试仪本体后端和测试头间固定连接有连接线，所述测试架底板上端固定连接有测试平台，所述测试平台和测试头上下对齐，所述丝杆上端到顶板间的距离和滑动杆到滑动槽下端的距离均大于测试平台和测试头间的距离。

优选的，所述测试架底板左右两端均开设有卡槽，所述卡槽和卡块为卡合连接，且卡槽和卡块的宽度大于测试架底板宽度的一半。

优选的，所述卡块内侧开设有限位孔，所述限位孔内由内向外依次固定连接有限位弹簧和限位块，所述限位块外侧为半圆形结构，所述限位块和测试架底板为卡合连接。

优选的，所述测试仪本体前端设置有显示屏、按键和插孔。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、该半导体器件检测用四探针测试仪，通过卡块和卡槽的配合使用，便于将测试仪本体与测试架底板进行连接，提高装置的稳定性，且采用上下堆叠的方式进行摆放，缩小装置占地面积，实用性更强；

2、该半导体器件检测用四探针测试仪，测试仪本体与测试架底板为可拆卸的设计，便于根据使用的需要将测试仪本体与测试架底板进行固定或分离，实用性更强，且通过限位块的设计，进一步提高测试仪本体与测试架底板间连接的牢固性；

3、该半导体器件检测用四探针测试仪，通过减震弹簧的设计，提高测试架底板的减震效果，且增设的滑动槽和滑动杆，有效提高安装座上下移动时的平稳性。

附图说明

图1为本实用新型立体结构示意图；