[实用新型]一种双光栅微弱振动实验装置

说明书

本实用新型公开了一种双光栅微弱振动实验装置，包括：半导体激光器、振动探测器、光电接收器、待测微振物、信号处理电路、示波器和双光栅组合；所述双光栅组合的两侧分别设有半导体激光器和光电接收器，所述光电接收器依次与信号处理电路和示波器连接；所述振动探测器的一端与双光栅组合连接，所述振动探测器的另一端与待测微振物连接。激光器发出的激光束入射至双光栅组合产生光拍，光电接收器用于接受产生的光拍信号，并将产生的电信号传送给信号处理电路再由示波器显示测量。本装置可以测仼微弱振动对象，灵敏度和分辨率很高。

技术领域

本实用新型属于教学实验装置技术领域，更具体地说，涉及一种双光栅微弱振动教学实验装置。

背景技术

对于微弱振动的精密测量问题是许多领域经常面临的一个问题。有关研究微弱振动实验的测量对象仅限于音叉振动，不能扩展到如压电陶瓷，磁致振动等微弱振动。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足，提供一种双光栅微弱振动实验装置，该实验装置可用于不同发生源产生微弱振动的测量。

本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的：一种双光栅微弱振动实验装置，包括：半导体激光器、振动探测器、光电接收器、待测微振物、信号处理电路、示波器和双光栅组合；所述双光栅组合的两侧分别设有半导体激光器和光电接收器，所述光电接收器依次与信号处理电路和示波器连接；所述振动探测器的一端与双光栅组合连接，所述振动探测器的另一端的弯头与待测微振物接触；所述双光栅组合包括动光栅、静光栅、动光栅定向轨、静光栅固定框和圆扣环；所述静光栅设置于静光栅固定框中，所述动光栅设置于动光栅定向轨中，所述动光栅定向轨和静光栅固定框固定于底座上，动光栅与静光栅的平面平行，所述动光栅的下沿与圆扣环粘接。所述振动探测器包括探测梁、支点和配重圈，所述探测梁一臂插入动光栅下沿所粘的圆扣环中，探测梁的中心处设有支点，靠近的探测梁弯头一臂上设有配重圈。

进一步地，所述半导体激光器设置于静光栅的一侧；所述光电接收器设置于动光栅的一侧。

进一步地，所述探测梁为轻质合金细铜丝，一端有弯头。

进一步地，所述半导体激光器发出的激光束入射至双光栅组合，产生光拍讯号，光电接收器接收并转换成电信号，经信号处理电路处理后传送至示波器，显示波形。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

1.通过配重圈调整振动探测器的平衡，使探测梁对待测微振物的施压极小，对微弱振动影响极小，而且探测灵敏度极高。

2.能够实现对不同发生源产生的微弱振动的测量，待测对象可更换，不限于音叉振动，扩展学生知识范围。

3.该实验装置具有适用范围广、操作简单和测量精度高的特点。

附图说明

图1是本实用新型双光栅微弱振动实验装置的结构示意图；

图中：1、动光栅，2、静光栅，3、半导体激光器，4、振动探测器，5、支点，6、配重圈，7、光电接收器，8、动光栅定向轨，9、静光栅固定框，10、待测微振物，11、信号处理电路，12、示波器，13、底座，14、双光栅组合，15、圆扣环。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型进一步说明。

如图1为本实用新型双光栅微弱振动实验装置的结构示意图，包括：半导体激光器3、振动探测器4、光电接收器7、待测微振物10、信号处理电路11、示波器12和双光栅组合14；所述双光栅组合14的两侧分别设有半导体激光器3和光电接收器7，所述光电接收器7依次与信号处理电路11和示波器12连接；所述振动探测器4的一端与双光栅组合14连接，所述振动探测器4的另一端的弯头与待测微振物10接触。