[实用新型]光学模组的测试装置

说明书

本实用新型公开了一种光学模组的测试装置，包括：基座、载物支座和盖板，基座的支撑面上具有透光孔，载物支座设置于支撑面上，且在第一位置和第二位置之间可转动地与基座相连，载物支座的工作面上具有用于容纳光学模组的容纳槽，工作面用于在第二位置时靠近支撑面且使容纳槽与透光孔相对，用于在第一位置时远离支撑面，盖板具有透光结构，在盖合状态盖板罩设在载物支座的工作面上。其中，在盖板处于盖合状态且载物支座处于第二位置时，盖板的透光结构与容纳槽对应。这样，通过使用盖板对设在容纳槽内的光学模组进行限位，让光学模组在进行翻转时产生的位置错动降低，使测试装置在进行光学模组的测量时，测试装置的测量精度变得更高。

技术领域

本实用新型涉及光学测量技术领域，尤其是涉及一种光学模组的测试装置。

背景技术

传统设计中，由于手动光源测试装置的光源在镜头底部，当光学摄像头模组的镜头和连接器未处于同一平面时，在保证测量效果的情况下采用普通的单次翻转结构，光学摄像头模组的连接器在基座上定位放置，这样进行测量时由于需要测试探针的针模在翻盖上呈合页状扣合对位，所以对位方式定位精度差，导致模组定位不准、测试连接不良、光学摄像头模组的外观压伤。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型的一个目的在于提出一种光学模组的测试装置，旨在解决光学模组的测试装置的定位精确度较差的技术问题。

本实用新型的实施例提出了一种光学模组的测试装置，包括：基座、载物支座和盖板，基座的支撑面上具有透光孔，载物支座设置于支撑面上，且在第一位置和第二位置之间可转动地与基座相连，载物支座的工作面上具有用于容纳光学模组的容纳槽，工作面用于在第二位置时靠近支撑面且使容纳槽与透光孔相对，用于在第一位置时远离支撑面，盖板具有透光结构，盖板与载物支座可转动地相连以敞开状态和盖合状态之间切换，在盖合状态盖板罩设在载物支座的工作面上，以使盖板盖合住容纳槽。

其中，在盖板处于盖合状态且载物支座处于第二位置时，盖板的透光结构与容纳槽对应。

这样，通过使用盖板对设在容纳槽内的光学模组进行限位，让光学模组在进行翻转时产生的位置错动降低，使测试装置在进行光学模组的测量时，测试装置的测量精度变得更高。

在一些实施例中，基座的支撑面上具有连接块和支撑块，连接块与支撑块分别位于透光孔的两侧，载物支座与连接块枢转连接，支撑块用于在载物支座位于第二位置且盖板处于盖合状态时，抵持于盖板或载物支座。因此，使用连接块对基座与载物支座的连接提供连接结构，让载物支座与基座的连接更为稳定，同时避免基座的形状受到载物支座的影响，使基座能够连接更多的载物支座，让基座的适用性变得更高，不仅如此，连接块还能为载物支座与连接块的枢转连接提供安装位置，让基座上的载物支座安装变得更加简单。

在一些实施例中，在载物支座处于第一位置时，载物支座的长度大于转动连接点到远离支撑块一侧边缘的距离，且小于转动连接点到靠近支撑块一侧边缘的距离。这样，通过将盖板、载物支座的一部分伸出基座，避免了载物支座全部支撑在基座上，从而能够减小基座的体积，不仅如此，还能够节省基座的制造成本，降低生产费用。

在一些实施例中，盖板上设有第一磁性结构，载物支座对应设置有第二磁性结构，在盖板处于盖合状态时，第一磁性结构与第二磁性结构磁性吸合，载物支座上还设有第三磁性结构，支撑块对应设置有第四磁性结构，载物支座处于第二位置时，第三磁性结构透过对接部一侧的避让空间与第四磁性结构相磁性吸合。

因此，使用具有较好的拆装能力的磁性吸合使得载物支座与盖板或载物支座与支撑块之间的连接更加方便，能够简化测试装置的使用，不仅如此，分别使用能够对应进行磁性吸合的第一至第四磁性结构还能使盖板、载物支座、支撑块进行磁性吸合时更为明确