[实用新型]一种GaSbx有效

专利信息
申请号: 202020500387.8 申请日: 2020-04-08
公开(公告)号: CN212011001U 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 万智;徐培强;林晓珊;张银桥;王向武 申请(专利权)人: 南昌凯迅光电有限公司
主分类号: H01L31/0735 分类号: H01L31/0735;H01L31/0352;H01L31/0304
代理公司: 南昌大牛知识产权代理事务所(普通合伙) 36135 代理人: 喻莎
地址: 330100 江西省南昌市*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 gasb base sub
【权利要求书】:

1.一种GaSbxAs(1-x)空间电池外延片,包括Ge衬底(1),其特征在于:所述Ge衬底(1)上依此设置有GaInP成核层(2)、GaInAs缓冲层(3)、GaAs隧穿结层(4)、GaSbAs缓冲层(5)、中电池(6)、GaInP/AlGaAs隧穿结层(7)、顶电池(8)和欧姆接触层(9),所述GaSbAs缓冲层(5)由五层组分递变GaSbxAs(1-x)缓冲层结构组成,厚度分别为0.2、0.2、0.3、0.5、0.1μm。

2.根据权利要求1所述的一种GaSbxAs(1-x)空间电池外延片,其特征在于:所述中电池(6)包括GaInAs/AlGaInAs(DBR)反射层(61)和GaInP背面场层(62)、GaSbAs基区层(63)、GaSbAs发射区层(64)和n-AlInP窗口层(65),所述GaInP背面场层(62)位于GaInAs/AlGaInAs(DBR)反射层(61)上方,所述GaSbAs基区层(63)位于GaInP背面场层(62)上方,所述GaSbAs发射区层(64)位于GaSbAs基区层(63)上方,所述n-AlInP窗口层(65)位于GaSbAs发射区层(64)上方。

3.根据权利要求1所述的一种GaSbxAs(1-x)空间电池外延片,其特征在于:所述顶电池(8)包括AlGaInP背面场层(81)、GaInP基区层(82)、GaInP发射区层(83)和AlInP窗口层(84),所述GaInP基区层(82)位于AlGaInP背面场层(81)上方,所述GaInP发射区层(83)位于GaInP基区层(82)上方,所述AlInP窗口层(84)位于GaInP发射区层(83)上方。

4.根据权利要求1所述的一种GaSbxAs(1-x)空间电池外延片,其特征在于:所述GaInP成核层(2)厚度为0.01~0.05μm,所述GaInAs 缓冲层(3)厚度为0.2~1μm,所述GaAs隧穿结层(4)厚度为0.02~0.1μm。

5.根据权利要求1或2所述的一种GaSbxAs(1-x)空间电池外延片,其特征在于:所述GaInAs/AlGaInAs(DBR)反射层(61)厚度为1~2μm,所述GaInP背面场层(62)厚度为0.1~0.2μm,所述GaSbAs基区层(63)厚度为1.5~3μm,所述GaSbAs发射区层(64)厚度为0.05~0.2μm,所述n-AlInP窗口层(65)厚度为0.05~0.2μm。

6.根据权利要求1所述的一种GaSbxAs(1-x)空间电池外延片,其特征在于:所述GaInP/AlGaAs隧穿结层(7)包括GaInP层(71)和AlGaAs层(72),所述GaInP层(71)厚度为0.01~0.05μm,所述AlGaAs层(72)厚度为0.01~0.05μm。

7.根据权利要求3所述的一种GaSbxAs(1-x)空间电池外延片,其特征在于:所述AlGaInP背面场层(81)厚度为0.05~0.2μm,所述GaInP基区层(82)厚度为0.5~1.5μm,所述GaInP发射区层(83)厚度为0.05~0.2μm,所述AlInP窗口层(84)厚度为0.05~0.2μm。

8.根据权利要求1所述的一种GaSbxAs(1-x)空间电池外延片,其特征在于:所述GaAs欧姆接触层(9)厚度为0.2~1μm。

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