[实用新型]功率器件封装结构有效

专利信息
申请号: 202020505188.6 申请日: 2020-04-08
公开(公告)号: CN211350630U 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 朱袁正;朱久桃;胡伟;叶美仙 申请(专利权)人: 无锡电基集成科技有限公司
主分类号: H01L23/482 分类号: H01L23/482;H01L23/488;H01L23/49;H01L23/498;H01L23/31
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 朱晓林
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 功率 器件 封装 结构
【权利要求书】:

1.一种功率器件封装结构,包括芯片、引线框架、铜片和环氧树脂封装体,所述引线框架包括引脚区和基岛区,所述芯片设置于基岛区上,所述环氧树脂封装体全包裹芯片和基岛区,部分包裹引脚区,其特征在于:所述芯片具有第一键合区和第二键合区,所述第二键合区的表面设置有键合点,所述铜片的一端通过焊接材料焊接于键合点上,另一端焊接于引脚区上,所述环氧树脂封装体全包裹或者部分包裹铜片。

2.根据权利要求1所述的功率器件封装结构,其特征在于:所述引线框架还包括散热区,所述环氧树脂封装体部分包裹散热区。

3.根据权利要求1或2所述的功率器件封装结构,其特征在于:所述键合点的材质为金、银、铜或者合金。

4.根据权利要求1或2所述的功率器件封装结构,其特征在于:所述键合点的形状为圆形、正方形、长方形或者不规则形。

5.根据权利要求1或2所述的功率器件封装结构,其特征在于:所述键合点通过挂锡工艺、熔锡工艺、冷压焊工艺、摩擦焊工艺、爆炸焊工艺、电子束焊工艺、超声波焊工艺或者钎焊工艺设置于第二键合区的表面上。

6.根据权利要求1或2所述的功率器件封装结构,其特征在于:所述焊接材料为锡基合金材料、银烧结材料或者铜烧结材料。

7.根据权利要求1或2所述的功率器件封装结构,其特征在于:所述键合点的高度为20um~5mm。

8.根据权利要求1或2所述的功率器件封装结构,其特征在于:所述键合点的数量为至少为1个。

9.根据权利要求8所述的功率器件封装结构,其特征在于:当键合点数量为多个时,多个键合点之间相互隔开。

10.根据权利要求9所述的功率器件封装结构,其特征在于:相邻的键合点之间通过铜线连接。

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