[实用新型]热控系统与温度校正装置有效

专利信息
申请号: 202020508890.8 申请日: 2020-04-09
公开(公告)号: CN212255479U 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 方育麟;李浚荣;陈亭彣 申请(专利权)人: 台达电子工业股份有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R1/44
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 谢强;黄艳
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 系统 温度 校正 装置
【权利要求书】:

1.一种热控系统,包括:

一温度校正装置,包括多个电阻器;以及

一热控装置,用以测量该多个电阻器以取得对应的多个测量电阻值,并且依据该多个测量电阻值与该多个电阻器的多个电阻值产生多个电阻校正参数;

其特征在于,该热控装置更用以依据该多个电阻校正参数调整该热控装置中的多个第一位置所对应的多个第一测量温度值,以取得该多个第一位置所对应的多个第一温度值。

2.如权利要求1所述的热控系统,其特征在于,该温度校正装置用以测量该多个第一位置,以取得该多个第一测量温度值。

3.如权利要求2所述的热控系统,其特征在于,该热控装置包括:

一存储器,用以存储该多个电阻校正参数;以及

一处理器,用以存取该存储器所存储的该多个电阻校正参数,并接收该温度校正装置所传送的该多个第一测量温度值,且对该多个电阻校正参数以及该多个第一测量温度值进行运算,以产生该多个第一温度值。

4.如权利要求1所述的热控系统,其特征在于,该热控装置包括:

多个加热致冷器,用以加热或冷却该多个第一位置;以及

多个第一温度感测器,用以测量该多个第一位置以取得该多个第一测量温度值。

5.如权利要求4所述的热控系统,其特征在于,该温度校正装置还包括:

多个第二温度感测器,用以测量该热控装置中的多个第二位置,以取得多个第二测量温度值;

该热控装置更用以依据该多个电阻校正参数调整该多个第二测量温度值,以取得该多个第二位置所对应的多个第二温度值。

6.一种温度校正装置,应用于一热控装置,该温度校正装置包括:

多个第一温度感测器,用以测量该热控装置中多个第一位置以取得多个第一测量温度值;以及

多个电阻器,具有多个电阻值与由该热控装置测量该多个电阻器而得的多个测量电阻值;

其特征在于,该热控装置用以依据该多个电阻值与该多个测量电阻值产生多个电阻校正参数,并且依据该多个电阻校正参数调整该多个第一测量温度值,以取得该热控装置中该多个第一位置对应的多个第一温度值。

7.如权利要求6所述的温度校正装置,其特征在于,该热控装置包括:

多个加热致冷器,用以加热或冷却该热控装置中多个第二位置;以及

多个第二温度感测器,用以测量该多个第二位置以取得多个第二测量温度值;

该热控装置更用以对该多个第二测量温度值与该多个电阻校正参数进行运算,以产生该多个第二位置对应的多个第二温度值。

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