[实用新型]一种用于快速检测残影的液晶模组检测装置

说明书

本实用新型公开了一种用于快速检测残影的液晶模组检测装置，包括工作底盘和设于工作底盘上的加热平台、温度测试数显探头和点屏控制装置，所述温度测试数显探头和点屏控制装置分别设于加热平台左右两侧，所述加热平台上放置待测液晶模组，所述点屏控制装置连接待测液晶模组，所述点屏控制装置上通过支架连接有光学测试探头，所述光学测试探头和温度测试数显探头设于待测液晶模组上方；本实用新型的液晶模组检测装置具有体积小、检测效率高和精度高等特点。

技术领域

本实用新型涉及胶框技术领域，尤其涉及一种用于快速检测残影的液晶模组检测装置。

背景技术

随着各种手机，数码，笔记本，电视机，智能家居，车载等产品的高速发展，广泛的用于人们的生活和工作中,液晶模组作为与终端客户视觉体验最直接的显示设备，客户对于液晶模组各项品质要求也日趋严苛，各大面板厂商都在努力提高液晶模组的性能,如近些年从 TN到UPS屏的全面转型升级，窄边框高色域，超薄高亮，响应时间缩短，降低液晶残影等等,其中残影的管控因为IPS屏技术的天生缺陷。对于提高液晶模组的视觉表现非常关键,直接影响了客户的肉眼感官体验享受。

残影又称影像残留，是液晶显示器件长时间保持一静止画面，液晶分子由于受到长时间的驱动造成液晶分子不能在信号电压控制下正常偏转的液晶的极化现象，即便改变显示画面，屏幕上仍然可以看到上一幅画面残留下来的的痕迹。遗留的残像产生的根本原因是液晶盒内有一定数量的杂质离子，而且这些杂质离子在一定条件下能够形成一定的电场，以至造成液晶盒内的正负离子形成不对称迁移并吸附在两个配向膜上和液晶的界面，形成了相对稳定的电场区域，从而与驱动信号的电场相叠加，促使液晶盒内上一幅固定显示画面位置处的有效电压变大，与其位置处实际驱动的有效电压有差异，导致两处的液晶透光率不同而产生肉眼可以看见的残影。

通常,在液晶模组组装完成后,需对其画面显示,外观等方面进行检测,以提高和控制产品的品质,其中包括对残影的检测。传统的对残影的检测,只能点亮模组固定在黑白棋盘格画面下持续一个小时或者更长时间，再切换到127阶灰色画面，数秒残影消失的时间。只能通过人的肉眼来感知判定残影消失所需的时间。人肉感光的差异，对残影的判定会因人而异，所得测试结论不够精准，并且单个屏一个环节测试耗时长，完全不具备量产性，不利于对残影的品质监控。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于快速检测残影的液晶模组检测装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

本实用新型公开了一种用于快速检测残影的液晶模组检测装置，包括工作底盘和设于工作底盘上的加热平台、温度测试数显探头和点屏控制装置，所述温度测试数显探头和点屏控制装置分别设于加热平台左右两侧，所述加热平台上放置待测液晶模组，所述点屏控制装置连接待测液晶模组，所述点屏控制装置上通过支架连接有光学测试探头，所述光学测试探头和温度测试数显探头设于待测液晶模组上方。

优选地，所述光学测试探头上连接有数据线。

优选地，所述温度测试数显探头上设有数字显示管显示温度数据。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型的检测装置,通过加热平台，在50度温度时，测试液晶模组的光学亮度，再通过亮度之间的差异值来判定液晶模组的残影等级。相比常规一个小时的测试时间，周期大幅缩短，同时提高了测试精度。

附图说明

图1为本实用新型实施例提出的一种用于快速检测残影的液晶模组检测装置的示意图。

图中：1工作底盘、2加热平台、3温度测试数显探头、4点屏控制装置、5待测液晶模组、6支架、光学测试探头7。

具体实施方式