[实用新型]一种用于制备黑组件太阳能电池的正膜结构有效

专利信息
申请号: 202020516784.4 申请日: 2020-04-09
公开(公告)号: CN211654833U 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 胡茂界;丁晨;陈刚 申请(专利权)人: 浙江爱旭太阳能科技有限公司
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216
代理公司: 金华智芽专利代理事务所(普通合伙) 33307 代理人: 陈迪
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 制备 组件 太阳能电池 膜结构
【权利要求书】:

1.一种用于制备黑组件太阳能电池的正膜结构,包括电池片(1),所述电池片的正面依次沉积有高折射率氮氧化硅膜(2)、氮化硅膜(3)、低折射率氮氧化硅膜(4)、氧化硅膜(5),其特征在于:所述氮化硅膜(3)包括下层氮化硅膜(31)、中层氮化硅膜(32)、上层氮化硅膜(33),其中,各层膜的厚度关系为由内向外逐渐增厚;各层膜的折射率关系为由内向外逐渐降低。

2.根据权利要求1所述的用于制备黑组件太阳能电池的正膜结构,其特征在于:所述氮化硅膜(3)的总膜厚为26至38纳米,所述氮化硅膜(3)的总折射率为2.10至2.20。

3.根据权利要求1或2所述的用于制备黑组件太阳能电池的正膜结构,其特征在于:高折射率氮氧化硅膜层(2)的厚度为3至7纳米、折射率为2.5至2.3。

4.根据权利要求3所述的用于制备黑组件太阳能电池的正膜结构,其特征在于:低折射率氮氧化硅膜层(4)的厚度为20至30纳米、折射率为1.9至2.1。

5.根据权利要求4所述的用于制备黑组件太阳能电池的正膜结构,其特征在于:氧化硅膜(5)的厚度的厚度为13至20纳米、折射率为1.4至1.6。

6.根据权利要求5所述的用于制备黑组件太阳能电池的正膜结构,其特征在于:高折氮氧化硅膜(2)、氮化硅膜(3)、低折氮氧化硅膜(4)和氧化硅膜(5)相加的总膜厚为62纳米至95纳米,折射率为1.85至2.10,膜色为暗蓝色。

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