[实用新型]一种快速空间反射率分布测量装置

权利要求书

1.一种快速空间反射率分布测量装置，其特征在于，

包括外罩，样品台，待测样品，一个或以上的照明光源，及成像测量装置，其中，所述外罩的内表面设有漫反射涂层；

所述待测样品放置在所述样品台上；所述外罩上设置有一个或以上的入射窗口；

所述照明光源的光束通过所述入射窗口照射所述待测样品，并经所述待测样品反射至所述外罩的内表面；所述成像测量装置的视场角部分或全部覆盖所述照明光源经所述待测样品反射后在所述外罩的内表面形成的像。

2.如权利要求1所述的快速空间反射率分布测量装置，其特征在于，所述样品台可绕Z轴旋转。

3.如权利要求1所述的快速空间反射率分布测量装置，其特征在于，一个或以上的所述照明光源设置在所述外罩不同位置对所述待测样品进行照射。

4.如权利要求1所述的快速空间反射率分布测量装置，其特征在于，所述样品台位于所述外罩的几何中心处。

5.如权利要求1所述的快速空间反射率分布测量装置，其特征在于，所述成像测量装置靠近所述样品台设置。

6.如权利要求1所述的快速空间反射率分布测量装置，其特征在于，所述成像测量装置为广角相机；或所述成像测量装置包括广角镜头、潜望光学系统及面阵探测器，其中，所述潜望光学系统包括反射镜片。

7.如权利要求1所述的快速空间反射率分布测量装置，其特征在于，所述外罩为半球形。

8.如权利要求1所述的快速空间反射率分布测量装置，其特征在于，还包括基板，所述外罩设置在所述基板上；所述基板上设有两个或以上的窗口用于容置所述待测样品和所述成像测量装置。

9.如权利要求8所述的快速空间反射率分布测量装置，其特征在于，所述基板至少在所述外罩一侧的表面为黑色。

10.如权利要求1所述的快速空间反射率分布测量装置，其特征在于，还包括图像数据处理装置，通过算法修正所述外罩内表面多次反射对待侧光源投射像带来的影响。