[实用新型]一种四拼芯片测试机构

说明书

本实用新型公开了一种四拼芯片测试机构，包括连接单元、传动结构、测试单元，连接单元包含治具连接板，治具连接板上设有方形排列的四个第一芯片槽、四个第一垫片槽，传动结构包含连接基板、吸嘴固定块、压块、吸嘴，测试单元包含基座，基座上设有放心排列的四个第二芯片槽、两个感应槽。本实用新型的有益效果是：是一种高精度的芯片测试机构，芯片通过传动结构抓取、放置，芯片放置位置精准，传动结构无需调整，工序少，节省工时，提高了芯片的检测效率，同时垫片槽内的支撑垫片、销钉可防止芯片在传动过程中因过压而损伤，提高芯片检测的合格率，减少损失，且可同时检测四个芯片，效率高。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种四拼芯片测试机构。

背景技术

随着科技的发展，芯片产业发展越来越快，芯片的小型化、多功能是现代芯片产业的发展趋势。由于芯片生产需经过几百步的工艺，任何一步的错误都可能导致器件失效，因此芯片检测环节至关重要，采用好的芯片测试机构可以提高芯片生产的合格率。常见的芯片检测机构，往往只能一次检测一个或两个芯片，检测效率低下，且芯片在传动过程中没有保护，经常出现过压导致的压伤、损坏，使芯片造成极大的浪费。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种四拼芯片测试机构，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种四拼芯片测试机构，包括连接单元、传动结构、测试单元，所述连接单元包含治具连接板，所述治具连接板上分别设有方形排列的四个第一芯片槽、四个第一垫片槽，所述四个第一芯片槽设置于四个第一垫片槽的内侧，所述治具连接板上设有两个第二垫片槽，且分别布置于两个第一芯片槽中间；

所述传动结构包含连接基板、吸嘴固定块、压块、吸嘴，所述吸嘴贯穿吸嘴固定块、压块的中心位置，并和连接基板相连通，所述压块和连接基板连接；

所述测试单元包含基座，所述基座上设有方形排列的四个第二芯片槽，所述基座上设有两个感应槽，且分别贯穿两个第二芯片槽，所述第二芯片槽的左右两侧均设有销钉。

进一步优选，所述第二垫片槽的长度是第一垫片槽的两倍，所述第二垫片槽内连接有两组支撑垫片，所述第一垫片槽内连接有一组支撑垫片。

进一步优选，所述第一芯片槽采用通槽设计，所述第二芯片槽采用盲槽设计。

进一步优选，所述压块的下面和连接基板的上面设有相配合的凹型槽，其槽的大小配合吸嘴固定块设计。

进一步优选，所述连接基板上配合连接有相同结构的两个压块、两个吸嘴及两个吸嘴固定块。

进一步优选，所述第一芯片槽和第二芯片槽的位置均对应设置。

进一步优选，所述压块上设有和销钉相配合的销孔，所述第一芯片槽的两侧设有和压块上销孔相配合的防旋转定位销。

进一步优选，所述吸嘴的位置和芯片槽的位置配合设置。

有益效果

本实用新型的四拼芯片测试机构，是一种高精度的芯片测试机构，芯片通过传动结构抓取、放置，芯片放置位置精准，传动结构无需调整，工序少，节省工时，提高了芯片的检测效率，同时垫片槽内的支撑垫片、销钉可防止芯片在传动过程中因过压而损伤，提高芯片检测的合格率，减少损失，且本实用的测试机构可同时检测四个芯片，效率高。

附图说明

图1为本实用新型实施例所公开的一种四拼芯片测试机构的结构示意图。

附图标记

11-治具连接板，12-第一芯片槽，13-第一垫片槽，14-第二垫片槽，21-连接基板，22-吸嘴固定块，23-压块，24-吸嘴，25-搭扣，31-基座，32-第二芯片槽，33-感应槽，34-销钉。