[实用新型]多用途ATE综合测试系统

说明书

本实用新型公开了多用途ATE综合测试系统，包括ATE综合测试机，所述ATE综合测试机的输入端单向电连接有电源模块，所述ATE综合测试机包括处理器，所述处理器的输出端双向电连接有测试机构。本实用新型通过设置光敏传感器、照明模块、灯座和照明灯相互配合，达到了夜间照明的功能，通过设置报警模块、蜂鸣器和闪光灯相互配合，达到了警示的功能，通过设置卡紧模块、气泵、气缸和卡紧板，对电子元件起到卡紧固定的功能，通过设置操作模块、储存模块、操作按钮和数据储存卡相互配合，起到储存数据的功能，从而达到了对ATE综合测试系统多功能的优点，方便测试人员使用ATE综合测试系统，降低了测试人员的操作难度。

技术领域

本实用新型涉及ATE综合测试技术领域，具体为多用途ATE综合测试系统。

背景技术

在所有的电子元器件的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程，为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE，这里所说的电子元器件DUT，当然包括IC类别，此外，还包括分立的元件，器件，ATE存在于前道工序和后道工序的各个环节，具体的取决于工艺设计的要求。

电子元件在进行测试时，需要用到ATE综合测试系统，目前现有的ATE综合测试系统有以下缺点：现有的ATE综合测试系统功能较为单一，导致测试人员在使用时，由于ATE综合测试系统结构简单，造成测试人员不方便使用ATE综合测试系统，增加了测试人员的操作难度。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了多用途ATE综合测试系统，具备对ATE综合测试系统多功能的优点，解决了现有的ATE综合测试系统功能较为单一，导致测试人员在使用时，由于ATE综合测试系统结构简单，造成测试人员不方便使用ATE综合测试系统的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：多用途ATE综合测试系统，包括ATE综合测试机，所述ATE综合测试机的输入端单向电连接有电源模块，所述ATE综合测试机包括处理器，所述处理器的输出端双向电连接有测试机构，所述处理器的输入端单向电连接有光敏传感器，所述处理器的输出端单向电连接有照明模块，所述照明模块分别包括灯座和照明灯，所述处理器的输出端单向电连接有报警模块，所述处理器的输出端单向电连接有卡紧模块，所述卡紧模块分别包括气泵、气缸和卡紧板，所述处理器的输入端单向电连接有操作模块，所述处理器的输出端双向电连接有储存模块。

优选的，所述电源模块分别电连接有电源线和插头，所述电源线和插头分别设置在ATE综合测试机的外部。

优选的，所述报警模块分别电连接有蜂鸣器和闪光灯，所述蜂鸣器和闪光灯分别固定在ATE综合测试机的表面。

优选的，所述操作模块电连接有操作按钮，所述操作按钮的底部固定在ATE综合测试机的表面。

优选的，所述储存模块电连接有数据储存卡，所述数据储存卡的一侧固定在ATE综合测试机的内腔。

(三)有益效果

与现有技术相比，本实用新型提供了多用途ATE综合测试系统，具备以下有益效果：

1、本实用新型通过设置光敏传感器、照明模块、灯座和照明灯相互配合，达到了夜间照明的功能，通过设置报警模块、蜂鸣器和闪光灯相互配合，达到了警示的功能，通过设置卡紧模块、气泵、气缸和卡紧板，对电子元件起到卡紧固定的功能，通过设置操作模块、储存模块、操作按钮和数据储存卡相互配合，起到储存数据的功能，从而达到了对ATE综合测试系统多功能的优点，方便测试人员使用ATE综合测试系统，降低了测试人员的操作难度。