[实用新型]具有动态分配测试核心的大容量并行测试系统

说明书

本实用新型涉及一种具有动态分配测试核心的大容量并行测试系统。所述大容量并行测试系统包括：第一数量的测量卡，提供激励信号给一个或多个被测器件DUT板，并测量来自一个或多个DUT板的反馈信号，每个测量卡具有第二数量的通道，其中测量卡的部分或全部通道被选择性地使能以用作测试核心；第三数量的交换卡，一个或多个交换卡可选择性地连接到测量卡的一个通道，以将激励信号路由到一个或多个DUT板，每个交换卡提供有第四数量的节点，每个节点可连接到DUT板上的一个节点；以及控制器，基于要并行测试的面板上的DUT板的数量及测试一个DUT板所需的节点的数量，动态分配测试核心和交换卡。利用该测试系统，显著地降低了测试时间并增加了吞吐量。

技术领域

本实用新型涉及测试领域，具体地，涉及具有动态分配测试核心的大容量并行测试系统。

背景技术

典型的在线测试(In-Circuit test,ICT)系统具有固定数量的“模块”和“节点”。例如，测试系统(ICT 3070)具有最大值4个模块，每个模块有1296个节点。用户能够通过组合所有的资源，使用该系统测试最多5184节点的大板，或者在每个板具有1296或更少节点的情况下并行地测试不同的板。在ICT3070中，模块包括四种卡：ASRU卡、控制卡、PIN卡和系统卡。每个模块一次可以测试一个板。因此，可以并行测试的板的数量受到“模块”的数量的限制，在该情况下，等于最大值4个模块的4个板可以并行测试。

随着技术进步，越来越多的板以更小的尺寸设计。因此，一个面板中的板的数量在增加。例如，在一个面板中有36个板。在这种情况下，如果使用ICT 3070测试这些板，最有效的方法是将这些板划分为4*9个板。一个模块顺序地测试9个板，并且四个模块同时运行。完成一个面板的测试所需的时间量理论上将等于顺序地测试9个板所需的时间量。

然而，这样的测试系统是耗时的并且吞吐量低。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种具有动态分配测试核心的大容量并行测试系统，其优点是显著降低测试时间并增加吞吐量。

在一个示例方面，一种具有动态分配的测试核心的测试系统包括：第一数量的测量卡，配置为提供激励信号给一个或多个被测器件DUT板，并且测量来自所述一个或多个DUT板的反馈信号，每个测量卡具有第二数量的通道，其中所述测量卡的部分或全部通道被选择性地使能以用作测试核心；第三数量的交换卡，一个或多个交换卡可选择性地连接到所述测量卡的一个通道，以将所述激励信号路由到一个或多个DUT板，每个交换卡提供有第四数量的节点，每个节点可连接到DUT板上的一个节点；以及控制器，配置成基于要并行测试的面板上的DUT板的数量以及测试一个DUT板所需的节点的数量，动态分配测试核心和交换卡。

一个或多个实现的细节在随后的附件、附图和下面的说明书中提出。其他特征将从说明书和附图以及权利要求中变得清晰。

附图说明

图1是图示本实用新型的测试系统的示例方框图。

图2是图示本实用新型的测试系统的示例架构图。

图3是图示本实用新型的总线开关电路的示例架构图。

具体实施方式

以下将描述具有动态分配测试核心的大容量并行测试系统。要注意到，本公开中描述的各个实施例可以实践而没有一些或全部的特定细节。在其他情况下，众所周知的处理操作没有详细描述，以便不会不必要地模糊本公开中公开的各种实施例。

典型的在线测试(ICT)系统具有固定数量的“模块”和“节点”。例如，ICT 3070具有最大值4个模块，每个模块大约1250个节点。用户能够通过组合所有的资源，使用该系统测试最多5000节点的大板，或者在每个板具有1250或更少节点的情况下并行地测试不同的板。可以并行测试的板的数量受到“模块”的数量的限制，在该情况下，等于最大值4个模块的4个板可以并行测试。