[实用新型]一种多SITE LCD驱动芯片检测装置

说明书

本实用新型公开一种多SITE LCD驱动芯片检测装置，包括上位机、主控板、电源板和若干设置有待测LCD驱动芯片的载板，所述主控板包括可编程逻辑器件、内存单元、ADC模块、模拟开关矩阵和USB总线芯片，对上位机传输的控制信息进行解析，启动模拟开关矩阵和ADC模块进行数据采集；将ADC模块转换完成的数据根据内存分配存储到内存单元中；将内存单元中的数字电平值进行读取，算法判定，核对每路波形BIAS与上位机设定值的一致性，将结果上传至上位机，判定芯片是否检测成功；本实用新型可同时控制多SITE LCD驱动芯片进行全性能检测，使用方便，效率高。

技术领域

本实用新型属于芯片检测技术领域，具体涉及一种多SITE LCD驱动芯片检测装置。

背景技术

目前对于LCD驱动芯片的检测多为单SITE(即单路检测，即一次只能测试一颗芯片)检测，批量检测时间较长，效率较低，很大程度上会影响交期及工效； ATE(AutomaticTest Equipment)集成电路检测模块兼容性较低，甚至需要挪换不同型号的机台来进行检测，这对于产线的检测灵活性造成很大的影响；而对于LCD驱动芯片的功能检测来说大多数检测方案还采用还原图形界面的方式，检测时根据芯片型号大小需要更换专用检测液晶，并且对于明暗度和稳定性无法相对正确的估判，再者，对于进行引脚检测方案，很多只能检测部分引脚，缺乏专业理论支撑和算法判定，这并不能符合全性能检测的要求。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题：单SITE检测，批量检测时间较长，效率较低；还原图形界面的方式，检测时需要根据芯片型号大小需要更换专用检测液晶，且性能检测不全面。

技术方案：为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案如下：

一种多SITE LCD驱动芯片检测装置，包括上位机、主控板、电源板和若干设置有待测LCD驱动芯片的载板，所述电源板通过连接器与主控板连接，为主控板提供低压稳压源；所述主控板包括可编程逻辑器件、内存单元、ADC模块、模拟开关矩阵和USB总线芯片，

所述可编程逻辑器件对USB总线芯片、模拟开关矩阵、ADC模块、LCD驱动芯片管脚进行控制；对上位机传输的控制信息进行解析，启动模拟开关矩阵和 ADC模块分批次对多路LCD驱动芯片引脚进行模拟量信号采集；将ADC模块转换完成的数据根据内存分配存储到内存单元中；将内存单元中的数字电平值进行读取，算法判定，核对每路波形电压偏置参数BIAS与上位机设定值的一致性，将结果上传至上位机，判定芯片是否检测成功；

作为优选，所述主控板与每个载板之间分别设置有模拟量采样通道、逻辑接口通道和电源通道，所述可编程逻辑器件通过LCD控制总线与逻辑接口通道连接，所述模拟开关矩阵与模拟量采样通道连接。

作为优选，所述电源板包括工业级DC-DC 48V转5V开关电源，主控板上设置LDO将低压稳压源转换成各个硬件电路模块所需要的小电压和模拟量采集基准源。

作为优选，所述载板设置有4个，分别通过连接器与主控板连接，所述ADC 模块设置有4个，一一对应采集载板上LCD驱动芯片的数据，所述内存单元设置有与载板数量相对应的4片DDR3。

作为优选，模拟开关矩阵为64个一分四模拟开关，其中256路输入口连接 4路连接器，64路输出口连接在4路ADC模块采集接口。

作为优选，所述内存单元的容量为2GB，内存单元由4片512MB的DDR3 组成，通过DDR总线与可编程逻辑器件连接。

作为优选，所述载板设置在主控板的上方，所述电源板设置在主控板的下方，在所述主控板的下方装有立式USB母座，

作为优选，每个载板上设置无盖测试插座，机械手臂与测试插座对接，操作被测LCD驱动芯片放入和吸取。