[实用新型]一种用于真空等离子体设备的匀气环有效

专利信息
申请号: 202020567761.6 申请日: 2020-04-16
公开(公告)号: CN212010899U 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 彭帆;漆宏俊;夏欢 申请(专利权)人: 上海稷以科技有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200240 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 真空 等离子体 设备 匀气环
【权利要求书】:

1.一种用于真空等离子体设备的匀气环,包括等离子体区域(1)、气体喷淋盘(2)、上腔体(3)、下腔体(4)和下电极(8),所述气体喷淋盘(2)和下电极(8)之间为等离子体区域(1),等离子体区域(1)的一侧设有上腔体(3)和下腔体(4),下电极(8)和下腔体(4)之间设有排气环(5),其特征在于,所述下腔体(4)与排气环(5)之间设有排气通道(9)。

2.根据权利要求1所述的一种用于真空等离子体设备的匀气环,其特征在于,所述气体喷淋盘(2)上设有上电极。

3.根据权利要求1所述的一种用于真空等离子体设备的匀气环,其特征在于,所述等离子体区域(1)内设有样品(7)。

4.根据权利要求1所述的一种用于真空等离子体设备的匀气环,其特征在于,所述排气通道(9)的深宽比为15:1~40:1。

5.根据权利要求2所述的一种用于真空等离子体设备的匀气环,其特征在于,所述排气通道(9)入口与上下电极之间形成的电场方形垂直。

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