[实用新型]一种用于真空等离子体设备的匀气环有效
申请号: | 202020567761.6 | 申请日: | 2020-04-16 |
公开(公告)号: | CN212010899U | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 彭帆;漆宏俊;夏欢 | 申请(专利权)人: | 上海稷以科技有限公司 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200240 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 真空 等离子体 设备 匀气环 | ||
1.一种用于真空等离子体设备的匀气环,包括等离子体区域(1)、气体喷淋盘(2)、上腔体(3)、下腔体(4)和下电极(8),所述气体喷淋盘(2)和下电极(8)之间为等离子体区域(1),等离子体区域(1)的一侧设有上腔体(3)和下腔体(4),下电极(8)和下腔体(4)之间设有排气环(5),其特征在于,所述下腔体(4)与排气环(5)之间设有排气通道(9)。
2.根据权利要求1所述的一种用于真空等离子体设备的匀气环,其特征在于,所述气体喷淋盘(2)上设有上电极。
3.根据权利要求1所述的一种用于真空等离子体设备的匀气环,其特征在于,所述等离子体区域(1)内设有样品(7)。
4.根据权利要求1所述的一种用于真空等离子体设备的匀气环,其特征在于,所述排气通道(9)的深宽比为15:1~40:1。
5.根据权利要求2所述的一种用于真空等离子体设备的匀气环,其特征在于,所述排气通道(9)入口与上下电极之间形成的电场方形垂直。
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