[实用新型]一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片有效

专利信息
申请号: 202020579112.8 申请日: 2020-04-17
公开(公告)号: CN211578759U 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 李兵;葛宜威 申请(专利权)人: 山东星合明辉电子有限公司
主分类号: H01L29/40 分类号: H01L29/40;H01L29/06;H01L29/866
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 孟雪
地址: 261500 山东省潍*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 漏电 超高 浪涌 能力 平面 稳压 芯片
【权利要求书】:

1.一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片,包括薄片状的芯片本体,所述芯片本体的上表面设有主结,所述主结的上表面设有顶部电极,所述芯片本体的下表面设有衬底,所述衬底的下表面设有底部电极,其特征在于,环绕所述顶部电极设有腐蚀环,所述腐蚀环的深度不低于所述主结的深度,所述腐蚀环内填充有钝化保护层,环绕所述腐蚀环设有金属放电环,环绕所述金属放电环设有切割槽。

2.根据权利要求1所述的一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片,其特征是,所述芯片本体设为抛光片或化腐片,所述芯片本体的厚度设为150-400um。

3.根据权利要求1所述的一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片,其特征是,所述主结的深度设为5-15um。

4.根据权利要求1所述的一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片,其特征是,所述芯片本体与所述主结的接触面形成PN结。

5.根据权利要求1所述的一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片,其特征是,所述钝化保护层设为复合多层结构或者单层结构。

6.根据权利要求5所述的一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片,其特征是,当所述钝化保护层为复合多层结构时,所述钝化保护层由内及表依次包括多晶硅、二氧化硅膜层和聚酰亚胺薄膜层;当所述钝化保护层为单层结构时,所述钝化保护层设为掺氯二氧化硅薄膜或聚酰亚胺薄膜。

7.根据权利要求1所述的一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片,其特征是,所述金属放电环与所述顶部电极的材质一致;所述金属放电环的高度与所述主结的高度一致。

8.根据权利要求1所述的一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片,其特征是,所述腐蚀环的深度为所述主结的深度的1.5-2倍。

9.根据权利要求1所述的一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片,其特征是,所述顶部电极与所述底部电极的结构设为相同或不同。

10.根据权利要求9所述的一种超低漏电流超高浪涌能力的平面型稳压管芯片,其特征是,所述顶部电极设为镍-镍或镍-金或钛-镍-银结构;所述底部电极设为镍-镍或镍-金或钛-镍-银或蒸铝层结构。

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