[实用新型]一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器有效
| 申请号： | 202020584861.X | 申请日： | 2020-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN212085023U | 公开（公告）日： | 2020-12-04 |
| 发明（设计）人： | 陆海;周东;唐起 | 申请（专利权）人： | 苏州镓敏光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L31/101 | 分类号： | H01L31/101;H01L31/0232;H01L31/0203 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 荧光 薄膜 反射 接收 紫外 探测器 | ||
1.一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，包括L型通管(1)，其特征在于：所述L型通管(1)底部的右侧内嵌有U型框(2)，所述L型通管(1)顶部的右侧连通有固定框(3)，所述U型框(2)和固定框(3)的内部之间栓接有保护框(4)，所述保护框(4)内部的开口卡接有石英透镜(5)，所述L型通管(1)右侧的底部内嵌有连接框(6)，所述L型通管(1)左侧的底部连通有限位框(7)，所述连接框(6)和限位框(7)的内部之间栓接有增透外壳(8)，所述增透外壳(8)的内部卡接有可见光增透镜(9)，所述L型通管(1)左上角的开口处栓接有固定块(10)，所述固定块(10)的左侧卡接有荧光薄膜反射镜(11)。
2.根据权利要求1所述的一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，其特征在于：所述U型框(2)的内部粘合有保护垫(12)，所述保护垫(12)与保护框(4)紧贴。
3.根据权利要求1所述的一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，其特征在于：所述固定框(3)的内部粘合有密封套(13)，所述密封套(13)与保护框(4)紧贴。
4.根据权利要求1所述的一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，其特征在于：所述连接框(6)的内部粘合有橡胶垫(14)，所述橡胶垫(14)与增透外壳(8)紧贴。
5.根据权利要求1所述的一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，其特征在于：所述限位框(7)的内部粘合有遮光套(15)，所述遮光套(15)与增透外壳(8)紧贴。
6.根据权利要求1所述的一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，其特征在于：所述荧光薄膜反射镜(11)呈四十五度设置，所述L型通管(1)的底部固定安装为硅基探测器。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
