[实用新型]一种nand flash储存芯片测试治具

说明书

本实用新型公开了一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，所述治具主体上设置有两个测试槽，所述测试槽内设置有与nand flash储存芯片的引脚相对应的测试触点，所述测试槽的上方设置有定位支架，所述定位支架上螺纹连接有定位螺杆，所述定位螺杆的底端连接有橡胶块，所述橡胶块与所述nand flash储存芯片之间设置有定位板，所述定位螺杆带动所述橡胶块下降，所述橡胶块通过所述定位板对所述nand flash储存芯片施加向下的力，进而使得全部的引脚与所述测试触点相接触，方便相应的检测设备对所述nand flash储存芯片进行检测。

技术领域

本实用新型涉及nand flash储存芯片测试设备领域，尤其涉及一种nand flash储存芯片测试治具。

背景技术

Nand flash存储器芯片是flash存储器的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。目前nand flash储存芯片在加工完成或者出厂时一般需要进行检测，在对nand flash储存芯片进行检测时一般需要用到相应的治具，但现有的检测治具在定位nand flash储存芯片时，容易使得nand flash储存芯片上的所有引脚无法正常的与检测原件完全接触，进而无法对nand flash储存芯片进行检测或者影响对nand flash储存芯片的检测结果。

实用新型内容

鉴于此，本实用新型公开了一种nand flash储存芯片测试治具，能够使得nandflash储存芯片上的所有引脚与测试槽内的测试触点完全接触。

本实用新型公开了一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，所述治具主体上设置有两个测试槽，所述测试槽的底面上设置有若干个与nand flash储存芯片的引脚相对应的测试触点，所述测试槽的上方设置有定位支架，所述定位支架上螺纹连接定位螺杆，所述定位螺杆的底端设置有橡胶板，并且所述橡胶板通过定位板对所述nand flash储存芯片的引脚施加向下的力，使得所述引脚与所述测试触点接触。

进一步的，所述测试槽的底面上设置有与所述nand flash储存芯片的底面相对应的第一收容槽。

进一步的，所述定位板的底面上设置有与所述nand flash储存芯片的顶面相对应的第二收容槽，所述第二收容槽的两端分别设置有与所述nand flash储存芯片的引脚相对应的按压凸起。

进一步的，所述定位支架的顶板上设置有导轨槽，所述导轨槽内设置有至少一个滑块，所述导轨槽的两侧壁上分别设置有滑动凸起，所述滑块的两侧壁上分别设置有与所述滑动凸起相配合的滑动凹槽，所述滑块通过所述滑动凹槽沿所述滑动凸起滑动，所述定位螺杆的底端穿过所述滑块，并与所述滑块螺纹连接。

进一步的，所述导轨槽的一端设置有开口，所述滑块从所述开口处进入或离开所述导轨槽。

进一步的，所述导轨槽内设置有两个所述滑块。

进一步的，所述测试槽的一侧设置有卡槽，所述卡槽内可拆卸的设置有标记板。

本实用新型公开的技术方案，与现有技术相比，有一效果是：

将nand flash储存芯片放在测试槽中，使得nand flash储存芯片的引脚与测试槽的底面上的测试触点相对应，此时将定位板放置在所述nand flash储存芯片的上方，转动所述定位螺杆，所述定位螺杆的底端通过橡胶板按压所述定位板，通过所述定位板对所述nand flash储存芯片施加向下的力，使得所述nand flash储存芯片上的所有引脚与测试触点贴合。

附图说明

图1为测试治具的结构示意图；

图2为测试治具的分解图；

图3为定位板的结构示意图；