[实用新型]小直径部件现场金相试验辅助平台

说明书

本实用新型属于试验台技术领域，尤其涉及一种小直径部件现场金相试验辅助平台，包括磁吸平台、连接筒、螺钉、支撑柱和垫块，磁吸平台的中心设有观察口，磁吸平台的四个角下方设有螺纹柱；连接筒的内壁设有内螺纹，连接筒的上端通过内螺纹连接螺纹柱，连接筒的下端的侧壁设有螺纹通孔，螺钉通过螺纹通孔将支撑柱固定在连接筒内，垫块设置于观察口的正下方；将受检部件放置于垫块上，显微镜磁力吸附在磁吸平台上，物镜对观察口对正下方垫块上的受检部件进行观察采样。通过本实用新型，能提高微观组织观察和图像采集的质量，提升小直径部件现场金相试验的工作效率。

技术领域

本实用新型属于试验台技术领域，尤其涉及一种小直径部件现场金相试验辅助平台。

背景技术

金相试验是微观组织检验的一种常用手段，可用于判断金属材料制造质量、设备安装质量和使用中组织性能的变化，以及判断老化部件蠕变损伤，是国际通用的实验方法。其优点是不需要破坏设备、成本低、耗时少、易操作，适用于各种规格金属部件的微观组织检验，特别是对于无法实现取样的情况，在各行业现场中应用广泛。

现场金相试验多采用便携式光学显微镜进行微观组织观察，从而确定磨抛及侵蚀过程是否达到图像采集需求，能否取得清晰微观组织照片。但对于小直径的管道、螺栓、螺杆等外表面为曲面或其他不规则形状的部件，便携式光学显微镜在架设时由于与部件外表面接触面积较小，缺少供其平稳放置的平面，往往会严重影响微观组织观察和图像采集的质量。其主要缺点表现如下：①由于受检部件尺寸小，便携式光学显微镜根本无法吸附固定，无法开展金相试验；②显微镜在观察过程中晃动，聚焦不稳定，难以锁定合适的观察视场；③显微镜吸附角度受限，光学聚焦面与观察面平行度差距较大，微观组织影像景深不一致，采集的图像模糊；④即使存在某些少数位置能够取得较好观察效果，但必然需要现场进行反复尝试操作，耗费大量时间、精力，降低工作效率。

上述问题给现场金相试验的质量、速率、成本等带来了很多不确定因素，有待改善解决。

实用新型内容

本实用新型提供了一种小直径部件现场金相试验辅助平台，目的在于提高微观组织观察和图像采集的质量，提升小直径部件现场金相试验的工作效率。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种小直径部件现场金相试验辅助平台，包括磁吸平台、连接筒、螺钉、支撑柱和垫块，磁吸平台的中心设有观察口，磁吸平台的四个角下方设有螺纹柱；连接筒的内壁设有内螺纹，连接筒的上端通过内螺纹连接螺纹柱，连接筒的下端的侧壁设有螺纹通孔，螺钉通过螺纹通孔将支撑柱固定在连接筒内，所述垫块设置于观察口的正下方；

将受检部件放置于垫块上，显微镜通过磁力吸附在磁吸平台上，物镜对观察口对准正下方垫块上的受检部件进行观察采样。

进一步地，磁吸平台为矩形。

进一步地，垫块为2个，呈直角梯形体，垫块的斜面为金相抛磨处理过的平面，2个垫块的斜面拼接成凹槽状。

进一步地，支撑柱的底部设有脚螺旋部件。

进一步地，连接筒与螺钉均为4个。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型设置带有观察口的磁吸平台，磁吸平台能够供便携式光学显微镜平稳吸附。磁吸平台的四个角设有螺纹柱，螺纹柱通过连接筒与支撑柱连接，螺纹柱的侧壁设有螺纹通孔，螺钉通过插入螺纹通孔将支撑柱固定在连接筒的内部，分别调整4个螺钉和支撑柱粗调平台的高度和水平度，支撑柱的底部设有脚螺旋部件，用于细调平台的高度和水平度。在观察口的正下方设有2个垫块，垫块为直角梯形状，垫块的斜面经金相抛磨处理，两个垫块的斜面拼接成凹槽状，用于放置受检部件，避免金相试验过程中受检部件的滚动。将受检部件放置于垫块上，显微镜的物镜通过观察口对下方的受检部件进行观察，可精确调节聚焦平面，有利于微观组织观察和图像采集，提高金相试验的质量和效率。