[实用新型]一种用于半导体测试探针的清洗装置的蓄水机构有效
申请号: | 202020623958.7 | 申请日: | 2020-04-23 |
公开(公告)号: | CN212329193U | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 曹镭 | 申请(专利权)人: | 浙江金连接科技有限公司 |
主分类号: | B08B13/00 | 分类号: | B08B13/00;B08B9/087;G01R1/067 |
代理公司: | 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253 | 代理人: | 张淼 |
地址: | 314000 浙江省嘉兴市经济*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 半导体 测试 探针 清洗 装置 蓄水 机构 | ||
1.一种用于半导体测试探针的清洗装置的蓄水机构,包括蓄水内壳(1),其特征在于,所述蓄水内壳(1)的上表面设有上盖(2),所述上盖(2)的上表面固定安装有电动推杆(3),所述电动推杆(3)的一侧外壁固定安装有供电盒(4),所述电动推杆(3)的下端设有活塞推杆(5),所述活塞推杆(5)的下端固定连接有连接套(6),所述连接套(6)的下端固定连接有清理架(7),所述清理架(7)的四周外表面分别设有两个第一连接杆(8)和第二连接杆(9),两个所述第一连接杆(8)的远离清理架(7)的一端均固定连接有第一刮板(10),两个所述第二连接杆(9)远离清理架(7)的一端均固定连接有第二刮板(11),所述第一连接杆(8)和第二连接杆(9)的外表面均固定套接有毛刷套(12),所述上盖(2)的内表面固定安装有固定套(17),且固定套(17)的内表面固定连接有橡胶套(18)。
2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试探针的清洗装置的蓄水机构,其特征在于,所述第一连接杆(8)与第一刮板(10)构成T字形结构,所述第二连接杆(9)与第二刮板(11)构成T字形结构。
3.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试探针的清洗装置的蓄水机构,其特征在于,所述蓄水内壳(1)的底部一侧内表面开设有排污口(13),且排污口(13)的内表面螺纹连接有密封盖(14),所述密封盖(14)的上表面设有提环。
4.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试探针的清洗装置的蓄水机构,其特征在于,所述蓄水内壳(1)的两侧竖直内壁的顶部位置均开设有物架挂槽(15)。
5.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试探针的清洗装置的蓄水机构,其特征在于,所述供电盒(4)的内部设有电源块(16),且电源块(16)的输出端与所述电动推杆(3)的输入端电性连接。
6.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试探针的清洗装置的蓄水机构,其特征在于,所述上盖(2)的两端均活动安装有锁扣(19),所述蓄水内壳(1)的两侧外壁顶部位置设有与所述锁扣(19)相适配的扣块(20)。
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