[实用新型]一种测试装置

说明书

本实用新型属于测试工装技术领域，公开一种测试装置，包括上盖、底座和锁止件，锁止件能将上盖锁定于底座上，上盖通过第一轴与底座枢接，锁止件通过第二轴与上盖枢接，锁止件相对的两端分别为卡接部和限位部，底座上对应卡接部设置有第三轴，卡接部能与第三轴卡接，第一轴包括伸出上盖的配合部，限位部能与配合部卡接或抵接。测试过程中，被测试件会施加给上盖一个向上的反向作用力，上盖有绕第一轴向上转动的趋势，进而使得锁止件的卡接部有绕第二轴向上转动的趋势，但由于卡接部与第三轴卡接，限位部与配合部卡接，能够给锁止件一个反向的作用力，有效限制卡接部及整个锁止件转动，进而限制上盖的转动，保证上盖牢固地锁定于底座上。

技术领域

本实用新型涉及测试工装技术领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

随着科技的发展，在半导体行业出现许多大尺寸的芯片，这些芯片通常用于中央处理器等一些重要零件上，芯片的尺寸较大，植球较多，探针数量多，芯片施加于测试装置的反向作用力较大。但是，现有测试装置的锁紧力一般较小，不足以承受来自芯片的反向作用力，锁紧力较大的测试装置在打开时又很费力。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试装置，锁紧力较大，适用于尺寸较大的芯片等被测试件的测试。

为实现上述目的，提供以下技术方案：

提供一种测试装置，包括上盖、底座和锁止件，所述锁止件能将所述上盖锁定于所述底座上，所述上盖通过第一轴与所述底座枢接，所述锁止件通过第二轴与所述上盖枢接，所述锁止件相对的两端分别为卡接部和限位部，所述底座上对应所述卡接部设置有第三轴，所述卡接部能与所述第三轴卡接，所述第一轴包括伸出所述上盖的配合部，所述限位部能与所述配合部卡接或抵接。

作为测试装置的一种优选方案，还包括连接臂，所述连接臂与所述上盖连接，所述第二轴设置于所述连接臂上。

作为测试装置的一种优选方案，所述卡接部通过所述第二轴与所述连接臂枢接；或，

所述锁止件还包括连接所述卡接部和所述限位部的过渡部，所述过渡部通过所述第二轴与所述连接臂枢接。

作为测试装置的一种优选方案，所述连接臂上设置有凹槽，所述连接臂能通过所述凹槽与所述第三轴卡接。

作为测试装置的一种优选方案，紧固件穿过所述连接臂并与所述上盖连接。

作为测试装置的一种优选方案，所述锁止件设置有两个，两个所述锁止件分设于所述上盖的两侧。

作为测试装置的一种优选方案，两个所述锁止件通过第四轴连接。

作为测试装置的一种优选方案，所述卡接部与所述第三轴沿竖直方向卡接，所述限位部与所述配合部沿水平方向卡接。

作为测试装置的一种优选方案，所述第一轴设置于所述底座的一端，所述第三轴设置于所述底座的另一端。

作为测试装置的一种优选方案，所述上盖上设置有散热片。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型提供的测试装置中，锁止件通过第二轴与上盖枢接，锁止件的卡接部与第三轴卡接，限位部与配合部卡接。测试过程中，被测试件会施加给上盖一个向上的反向作用力，使得上盖有绕第一轴向上转动的趋势，进而使得锁止件的卡接部有绕第二轴向上转动的趋势，但由于卡接部与第三轴卡接，限位部与配合部卡接，能够给锁止件一个反向的作用力，有效限制卡接部及整个锁止件转动，进而限制上盖的转动，保证上盖牢固地锁定于底座上，测试过程中该测试装置处于完全锁紧状态，上盖不会因被测试件的反作用力而打开，尤其适用于尺寸较大的芯片等被测试件的测试。

附图说明