[实用新型]一种钕铁硼磁体尺寸检验装置有效

专利信息
申请号: 202020659898.4 申请日: 2020-04-27
公开(公告)号: CN212082193U 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 刘兴民 申请(专利权)人: 江苏希磁新材料科技有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/06
代理公司: 南京禾易知识产权代理有限公司 32320 代理人: 师自春
地址: 211302 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 钕铁硼 磁体 尺寸 检验 装置
【权利要求书】:

1.一种钕铁硼磁体尺寸检验装置,包括装置底板(1),其特征在于:所述装置底板(1)上设置有盖板卡槽(23),所述盖板卡槽(23)设置为矩形槽,所述盖板卡槽(23)的内部设置有盖板(26),所述盖板(26)设置矩形板,所述盖板(26)与盖板卡槽(23)的面积设置为一致,所述盖板(26)上设置有锁边条(27),所述锁边条(27)设置为“凹”状,所述锁边条(27)与盖板(26)固定连接,所述锁边条(27)与盖板卡槽(23)设置为贴合,所述盖板(26)的后端设置有限位块(28),所述限位块(28)设置有两个,所述限位块(28)与盖板(26)固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种钕铁硼磁体尺寸检验装置,其特征在于:所述盖板卡槽(23)的后端设置有限位槽(24),所述限位槽(24)与限位块(28)设置为贴合,所述限位槽(24)的一侧设置有扣槽(25),所述扣槽(25)设置为矩形槽,所述扣槽(25)的深度设置为限位槽(24)深度的一半,所述限位槽(24)的后端设置有横向滑槽(20)。

3.根据权利要求2所述的一种钕铁硼磁体尺寸检验装置,其特征在于:所述横向滑槽(20)的内部设置有第二滑动槽(21),所述第二滑动槽(21)设置有两个,所述第二滑动槽(21)的内部设置有第二滑动条(22),所述第二滑动条(22)与第二滑动槽(21)设置为贴合,所述第二滑动条(22)上设置有横向滑块(19),所述横向滑块(19)与横向滑槽(20)设置为贴合。

4.根据权利要求3所述的一种钕铁硼磁体尺寸检验装置,其特征在于:所述横向滑块(19)的上端设置有固定套(18),所述固定套(18)设置为倒“凹”状,所述固定套(18)的内部设置有横向压条(17),所述横向压条(17)与固定套(18)设置为贴合,所述横向压条(17)的前端设置有卡角块(14),所述卡角块(14)设置有限位条,所述卡角块(14)设置为“L”状,所述卡角块(14)的内部设置有限位滑槽(16),所述限位滑槽(16)与限位条设置为贴合。

5.根据权利要求4所述的一种钕铁硼磁体尺寸检验装置,其特征在于:所述卡角块(14)的上端设置有纵向测量尺(15),所述纵向测量尺(15)与卡角块(14)固定连接,所述卡角块(14)的一侧设置有纵向滑槽(2),所述纵向滑槽(2)的内部设置有第一滑动槽(3)。

6.根据权利要求5所述的一种钕铁硼磁体尺寸检验装置,其特征在于:所述第一滑动槽(3)的内部设置有第一滑动条(4),所述第一滑动条(4)与第一滑动槽(3)设置为贴合,所述第一滑动条(4)的一侧设置有纵向滑块(5),所述纵向滑块(5)的上端设置有高度测量杆(6),所述高度测量杆(6)与纵向滑块(5)固定连接,所述高度测量杆(6)的前端设置有高度测量尺(7),所述高度测量尺(7)与高度测量杆(6)固定连接,所述纵向滑块(5)的一侧设置有高度滑槽(8)。

7.根据权利要求6所述的一种钕铁硼磁体尺寸检验装置,其特征在于:所述高度滑槽(8)的内部设置有高度滑块(10),所述高度滑块(10)与高度滑槽(8)设置为贴合,所述高度滑块(10)上设置有滑套(9),所述滑套(9)与高度滑块(10)固定连接,所述高度测量杆(6)的上端设置有挡板(11),所述滑套(9)的一侧设置有高度压板(12),所述高度压板(12)与滑套(9)固定连接,所述高度压板(12)的上端设置有横向测量尺(13),所述横向测量尺(13)与高度压板(12)固定连接。

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