[实用新型]一种高分子材料冲击试样缺口测量装置

权利要求书

1.一种高分子材料冲击试样缺口测量装置，其特征在于：包括底座、量块单元及测量单元，量块单元安装于所述底座上，所述测量单元安装于所述量块单元的上端，所述量块单元的底部与底座连接，所述测量单元通过立柱与所述底座连接。

2.根据权利要求1所述的高分子材料冲击试样缺口测量装置，其特征在于：所述底座由脚座、底板及立柱组成，所述脚座安装于底板的底部，所述立柱安装于所述底板的上端中心处。

3.根据权利要求2所述的高分子材料冲击试样缺口测量装置，其特征在于：所述脚座的数量为4个，所述脚座呈矩形的四个顶点设置于所述底板的底部。

4.根据权利要求1所述的高分子材料冲击试样缺口测量装置，其特征在于：所述量块单元由垫块、试样、测量块、挡销及测量块固定螺钉组成，所述测量块通过测量块固定螺钉与垫块连接，所述试样及挡销均安装于所述测量块上；所述挡销的数量为2个。

5.根据权利要求1所述的高分子材料冲击试样缺口测量装置，其特征在于：所述测量单元由千分表、千分表固定座、锁紧螺钉及千分表锁紧螺钉组成，所述千分表、锁紧螺钉及千分表锁紧螺钉均与所述千分表固定座连接。

6.根据权利要求5所述的高分子材料冲击试样缺口测量装置，其特征在于：所述千分表固定座与所述立柱连接。