[实用新型]总线接口的测试辅助装置及测试系统

说明书

本实用新型提供一种总线接口的测试辅助装置及测试系统，所述测试辅助装置包括测试板；若干连接器，设置于所述测试板上；若干探针，设置于所述测试板的一侧，且每个所述探针的一端与一所述连接器连接，每个所述探针的另一端与所述总线接口的一个接口连接；其中，所述连接器的未与所述探针连接的一端作为与信号源或者示波器连接的端头。利用本实用新型的总线接口的测试辅助装置能够对非标准总线接口进行测试时，能够避免造成待测非标准总线接口和待测主板损害的风险，节省人力资源和测试时间，并且电路简单易于实现。

技术领域

本实用新型涉及总线接口测试技术领域，特别是涉及一种总线接口的测试辅助装置及测试系统。

背景技术

PCIE(PCI-Express)总线传输速度较快，目前最新的PCIE GEN4已经达到16Gbps，得到了广泛的应用。速度较快的同时也伴随着信号完整性的问题，在现有的电子设备中，尤其是电脑主板上的PCIE设备都需要通过一个标准治具进行测试，对于标准的PCIE总线接口，一般会采用一个测试小板(例如Wilder PCIE M.2fixture)，该测试小板上面有标准的PCIE连接口，能够将PCIE Device直接接到测试小板上，测试小板会引出PCIE的TX+/TX-，RX+/RX-，CLOCK+/CLOCK-三对差分信号，分别接到示波器和任意信号源的各通道进行测试。

但是，也存在一些非标准的PCIE总线接口，这些非标准的PCIE总线接口不能直接连接到现有的测试小板上。现有的解决办法是将被测的PCIE总线接口的3对差分信号TX+/TX-，RX+/RX-，CLOCK+/CLOCK-都引出，通过焊接的方式接到标准的PCIE总线接口上，再将标准的PCIE总线接口连接到现有的测试小板(例如Wilder PCIE M.2fixture)上。焊接工艺消耗的时间较长，造成人力和时间的浪费，而且需焊接的PCIE内置口较多，焊接工艺会导致PCIE总线接口和待测主板的损坏，风险比较大。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种总线接口的测试辅助装置及测试系统，用于解决现有技术中的对非标准PCIE总线接口进行测试时耗费时间长，造成人力和时间浪费，以及容易导致非标准PCIE总线接口和待测主板损坏的技术问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种总线接口的测试辅助装置，所述总线接口的测试辅助装置包括：

测试板；

若干连接器，设置于所述测试板上；

若干探针，设置于所述测试板上，且每个所述探针的一端与一所述连接器连接，每个所述探针的另一端与所述总线接口的一个接口连接；

其中，所述连接器的未与所述探针连接的一端作为与信号源或者示波器连接的端头。

在一可选实施例中，所述测试辅助装置包括至少六个所述连接器和六个所述探针。

在一可选实施例中，六个所述探针分成三对，其中一对所述探针与所述总线接口的一对输入接口连接，另一对所述探针与所述总线接口的一对输出接口连接，第三对所述探针与所述总线接口的时钟接口连接。

在一可选实施例中，通过所述探针与所述总线接口的一对输入接口连接的两个所述连接器分别与所述信号源连接。

在一可选实施例中，通过所述探针与所述总线接口的一对输出接口连接的两个所述连接器分别与所述示波器连接。

在一可选实施例中，通过所述探针与所述总线接口的一对时钟接口连接的两个所述连接器分别与所述示波器连接。

在一可选实施例中，所述测试辅助装置还包括至少一对隔直接头，通过所述探针与所述总线接口的一对输出接口连接的两个所述连接器通过该对隔直接头与所述示波器连接。

在一可选实施例中，所述测试辅助装置还包括欧姆端子